环境水体中痕量元素X射线荧光光谱分析新方法研究
水是地球人类及其它生物赖以生息繁衍的最基本物质之一。随着近代人类社会的巨大进步和现代工农业的飞速发展,环境污染与生态的破坏已成为各国政府和学者面临的重要问题,尤其是水资源与水安全问题持续受到人们广泛关注。环境水体样品来源多样,基体复杂,元素含量范围跨度大,大部分环境影响重要元素含量极低。建立准确、便捷、经济地测定环境痕量元素分析方法一直是分析化学领域的重要研究课题。相对于各类仪器分析方法,X射线荧光光谱(XRF)分析技术在仪器长期稳定性、自动化程度、分析成本、对环境的影响、固体样品直接分析等诸多方面具有绝对优势。但由于其自身存在分析检出限不够低、基体效应干扰严重、标准物质类型依赖性强等固有的缺陷,其优良性能和巨大的潜力目前并没有得到充分发挥,应用范围也相当有限。因此,充分利用现有大型分析仪器的性能优势,开发其巨大的分析潜力,提高大型分析仪器的使用效率,以满足日益增多的大量环境污染样品的分析测试要求,是地球科学、环境科学、分析化学......阅读全文
环境水体中痕量元素X射线荧光光谱分析新方法研究
水是地球人类及其它生物赖以生息繁衍的最基本物质之一。随着近代人类社会的巨大进步和现代工农业的飞速发展,环境污染与生态的破坏已成为各国政府和学者面临的重要问题,尤其是水资源与水安全问题持续受到人们广泛关注。环境水体样品来源多样,基体复杂,元素含量范围跨度大,大部分环境影响重要元素含量极低。建立准确、便
X射线荧光光谱法痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，
X射线荧光光谱法测定土壤样品中的24种主次量及痕量元素
近年来随着国家对矿产资源调查工作的进一步重视和投入的不断加大，地质行业得到了飞速发展，作为基础地质调查工作的多目标区域地球化学调查项目顺势启动。地质实验测试工作作为地质工作的“眼睛”，在多目标区域地球化学调查项目中发挥着关键的技术支撑作用。同时，它也面临着重大的机遇和挑战，要求分析测试工作具有更高的
X射线荧光光谱仪测量元素范围
X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。 X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（
基于X射线荧光光谱法测定饰品中的有害元素
有害元素对人体的危害和环境的污染日益受到重视，世界各国都在研究制定相关法律法规对其进行控制和检测。在首饰业中，我国亦制定了相关国家强制性标准对饰品中有毒有害物质的使用做出了限量的规定。目前多采用电感耦合等离子体发射光谱法（即ICP-AES法）对首饰中的有害元素进行检测，但该方法具有破坏性，因此，建立
全反射X荧光技术在痕量元素检测中的应用
TX2000全反射X荧光光谱仪 高沸点石油化工产品及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作，目前检测手段主要为AAS、ICP-OES、EDXRF等。 样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品，灰化法分解样品，湿法分解样品等。但是这些前处理手段都有其不足之处，如高温易挥发元素损失
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
水体样品化学富集薄试样X射线荧光光谱现场分析
本工作的主要内容是研究适合便携式x射线荧光光谱分析环境水体中重金属元素的富集和制样技术。建立EDXRF现场分析方法,以期达到两个目标：(1)扩充车载EDXRF实验室的现场样品分析范围,实现资源环境调查综合支撑能力；(2)使手持式XRF分析仪能够应用于水体重金属元素分析,为支撑环境水体样品调查和监测提
X射线荧光光谱法测定钨、钼、锡矿中的成矿元素
钨、钼、锡矿产资源是我国重要的矿产资源，其矿产中常常伴生铜、铅、锌、铋等重金属元素，成矿元素钨、钼、锡经典分析方法多为单元素分析，且步骤繁琐，流程长，耗费了大量的人力、物力、财力。本文研究的主要目的是为适应当前国家矿产勘查工作的需要，缩短分析周期，提高效率，建立钨、钼、锡矿成矿元素的X射线荧光光谱分
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
X射线荧光光谱原理
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
基于X射线荧光的指纹元素成像
中国科学院高能物理研究所王萌研究员 中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素，生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹，得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比
X射线荧光光谱和荧光光谱－区别
一、理论上。荧光光谱是比较宽的概念，包括了X射线荧光光谱。二、从仪器分析上，荧光光谱分析可以分为：X射线荧光光谱分析、原子荧光光谱分析，1）X射线荧光光谱分析——发射源是Rh靶X光管2）原子荧光光谱分析——可用连续光源或锐线光源。常用的连续光源是氙弧灯，常用的锐线光源是高强度空心阴极灯、无极放电灯、
X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。 实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？微源实
波长色散X射线荧光光谱仪快速定量元素分析
低原子序数性能、Mapping分析和多点分析 提供的性能和灵活性用来分析复杂样品，结合了较为先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物，ZSX Primus中具有一个30μm的X射线管（工业中薄端窗的X射线管），用于特殊轻元素（低原子序数）检出限。ZSX Primus简单地提供了其他分析方法无法
水泥中铬元素的X射线荧光光谱分析方法研究及其应用
本课题的目的是利用X射线荧光分析方法建立一套水泥中总铬、水溶性六价铬离子的测试方法，并利用水泥企业化验室现有的条件替代标准方法完成测试工作。本方法与标准方法相比具有测定速度快、操作简单、试料量少的优点，为研究水泥中可溶性六价铬离子的来源及存在形态提供了参考依据，对于研究降低水泥中水溶性六价铬离子含量
水泥中铬元素的X射线荧光光谱分析方法研究及其应用
本课题的目的是利用X射线荧光分析方法建立一套水泥中总铬、水溶性六价铬离子的测试方法，并利用水泥企业化验室现有的条件替代标准方法完成测试工作。本方法与标准方法相比具有测定速度快、操作简单、试料量少的优点，为研究水泥中可溶性六价铬离子的来源及存在形态提供了参考依据，对于研究降低水泥中水溶性六价铬离子含量
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
什么是X射线荧光光谱
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受