选购X射线荧光分析仪的重硬件轻软件和技术的介绍
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则，它就很难适应众多用户的各种需求，这样的仪器等于没有灵魂。对于软件的考察，绝不能停留在画面的漂亮与否、花样是否齐全等表面文章上，关键要看采用的算法是否先进有效，建立在怎样的分析技术基础上，是否适应于主要被分析样品的特性，还要考虑是否适合操作人员的素质和能力。......阅读全文
选择X射线荧光分析仪的误区
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
X射线荧光分析仪的发展历程
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。 比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级
X射线荧光的物理原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光仪器的基本介绍
X射线荧光仪器（X Ray Fluorescence，XRF）又称为X射线荧光光谱法，是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它是指根据原子在原级X射线或粒子的激发下发射出的次级的特征X射线（X射线荧光）的波长和长度，对元素进行定性和定量的分析方法。
X射线荧光分析的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
X射线荧光仪器的分类介绍
X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同，可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管作为激发源，产生入射X射线（一次X射线）用于激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次
X射线荧光仪器的历史介绍
X射线荧光仪器是指波长为0.01~10nm的电磁波，1895年伦琴（W. C. Roentgen）在使用放电管工作时发现了X射线，因为这一个重大发现，伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱（H. G. Moseley）建立了X射线波长与原子序数的关系，奠定了X射线荧光光谱分析的基础，第
X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光分析仪基本原理： 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，
x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍
1、同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。 4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。 5、电源: 交流220V±5V, 建
x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。 微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
X荧光射线镀层测厚仪技术原理
X荧光射线镀层测厚仪原理 XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号
微－X－射线荧光－(µXRF)技术详解
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术，它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样，微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射，以用于元素分析。与传统 XRF 不同（其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米），µXRF 使用 X 射线
简述X射线荧光分析仪的产品特点
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线荧光光谱分析仪的缺点介绍
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X射线荧光光谱分析仪的优点介绍
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在
关于X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪和能量（energy）色散X射线荧光光谱仪； 波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关(related)电子与控制部件，相对简单。 X射线荧光分析仪基本原理
关于X射线荧光分析技术应用的误区
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁 分析
X射线荧光分析方法的优点介绍
①分析的元素范围广，除少数轻元素外，周期表中几乎其他所有的元素都能进行分析。随着仪器的改进，分析元素已经扩展到F，O，C等轻元素。 ②荧光X射线谱简单，谱线干扰少，对于化学性质极其相似的元素，如稀土、锆铪、铂系等，不需经过复杂的分离，就能成功地完成分析工作。 ③分析的浓度范围较宽，从常量组分
X射线荧光法的相关介绍
X射线荧光法是用，照射待测样品，使受激元素产生二次特征X射线（即荧光），使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率，从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。 方法的特点是操作简单，速度快，可以进行原位测量，在现场获得目标元素的含量；划分矿与非矿的界限，代替或部分代替刻槽取样。
X射线荧光的产生相关介绍
当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时，在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时，就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”，层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态，这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”，这一过程将使整个原子的能量降低，因此可以自发
关于X射线荧光分析的分类介绍
1、根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长