XRF仪中所用的探测器主要类型有哪些？
XRF(X荧光光光谱仪)探测器是用来接收X射线并把它转变成可测量的或可观察的量。现在最常用的探测器有流气式正比计数器、封闭式正比计数器、闪烁计数器以及应用于X射线荧光能谱分析上的半导体探测器。 (1)流气式正比计数器。它主要用来探测波长在0.2~1.5nm的X射线，通常用厚2~6μm，并喯镀铝的聚酯膜作窗口材料，充有90%氩和10%甲烷的混合气体。由于窗口如此薄，探测器很容易漏气，故需不断补充新鲜气体，气体的流量一般为1.6~3.2L/min。近年来，为了探测超软X射线(波长达1~10nm)，窗口常采用1μm的聚丙烯或聚碳酸酯薄膜，甲烷的含量可高达100%或用氦气。流气式正比计数器的能量分辨率仅次于半导体探测器，对FeKaⅠ线的分辨率均为10%~20%，是闪烁计数器的2~3倍。它的计数分辨时间与闪烁计数器相仿，适用于高达105~106cps（即脉冲/s）的计数。充氩或充氪的正比计数器有较大的逸出峰。当流气式正比计数器......阅读全文
XRF是什么
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线
XRF技术讲解
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。 X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。 XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围最低至
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
了解XRF中的常用“密语”，为检测加速
查看X射线荧光（XRF）相关的内容时，您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南，来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。 XRF XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有: EDXRF
手持式XRF的应用领域及特点是怎样的
手持式XRF仪器可进行快速、无损、高精度的检测，广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 xrf.jpg 1、合金材料分析 目前在合金材料检测领域，它主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料
CCD探测器与CID探测器
CCD（Charge-coupled Device）的概念CCD，英文全称：Charge-coupled Device，中文全称：电荷耦合元件。可以称为CCD图像传感器。CCD是一种半导体器件，能够把光学影像转化为数字信号。 CCD上植入的微小光敏物质称作像素（Pixel）。一块CCD上包含
WD－XRF与ED－XRF有什么区别
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（一）
1. 用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？ (1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。 我的建议是： A 压样之后在破碎之前进行分析。（不得已而为之） B 增加压样的时间，减小压样的压力
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化
XRF问题汇总（十）
我以ＥＤＸ７２０测定铁基镀Ｎi层（层厚５um左右），保证同材质同镀槽的前提下，测出的结果有的在３０００ＰＰＭ有的却在３００～５００ＰＰＭ 甚至没有检出，问题出在哪?基材为ＳＵＭ２４Ｌ快削钢（Ｐb＜３５００ＰＰＭ） (1) FP法测定镀层 通常我的做法是 1. FP镀层法 先做定性，根据经验分析镀层成
手持XRF的应用
手持XRF是一种使用X射线荧光(XRF)技术进行元素分析的设备,具有快速、无损、高精度等特点,被广泛应用于各个领域。下面将详细介绍手持XRF的应用。 一、合金材料检测 手持XRF仪器在合金材料检测领域应用广泛,主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域的金属材料中元素成分的现场测定。这
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（七）
61.最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 根据你所说得情况，应该是X
XRF问题汇总（二）
1.请问做黄金，白金测定一定要标样吗？黄金就是普通用户的手饰什么的. (1) 做黄金，白金测定一定要标样，除非测定结果不算数 (2) 项链类的应先去污 12.用XRF测磁芯材料中的铅,要求是100PPM以下,可以测吗? 100PPM以下的铅含量完全可以测，当然不能太小，比如几个PPM就比较难测了，
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
XRF仪器选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF问题汇总（八）
71.铁基中PB的LA线除了因为AS的干扰，还有什么因素干扰？ Pb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 72.x荧光光谱报24v故障是怎么回事？ (1) 应该是提供24V的电路板有故障， 测一下24V输出，， 有问题赶快换电路板。 (2) X射线荧光谱仪的各
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
XRF问题汇总（四）
31.在用Ｘ－ray测Ｐb的时候有ＰbLb1分析线．请问有没有ＰbLb2分析线？ (1) Pb的La、Lb1是两条最灵敏线。其他线的灵敏度很低，不便于常规使用。 (2) 有ＰbLb2分析线，但其强度太弱，也就是说相对灵敏度很低，一般情况下都选用Pb的Lb1线。 32.怎么结合谱线的峰值看EDX的测
什么是xrf测试？
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WD
什么是xrf测试
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WDX，
XRF问题汇总（六）
51.生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大,C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右.分析标样还可以 为什么会这样? (1) 我分析可能是制样导致的差距,可以多分析几个标样,看看怎样,如果标样分析不相差,只是样品分析存在差距,可以从制样过程中找原因