XRF与ICP的不同在哪里？
XRF测试作为常用测试之一，但仍有许多同学不太了解其具体内容，本篇文章详细给大家介绍XRF与ICP比较的差异。ICPXRF说 明说明1. 分析方式及样品形态化学分析法：利用电浆激发液体样品， 产生放射光谱。物理分析法：利用 X射线激发样品产生 X-Ray能谱。1.ICP 样品必须为液态，为破坏式检测。2.XRF样品为固态、 液态或粉末皆可， 且为非破坏式检测方式。2. 检测浓度范围ppm～100%，约 70 种元素。ppm～100%，约 70 种元素。1.ICP 之元素检测下限较低 ( 灵敏度高 ) ，无法量测卤素，如氯 (Cl) 、溴(Br) 。2. XRF之元素检测下限较高 (灵敏度低 )，可量测卤素 , 例如 RoHS中管制的 PBB、PBDE( 即溴的化合物 )3. 样品分析时间液体样品约 2 分钟。( 包含前处理时间 )固、液、粉末，约为 5～10 分钟，无需前处理。1.ICP 需要前处理步骤将固体样品经由强酸高温长时......阅读全文
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（四）
31.在用Ｘ－ray测Ｐb的时候有ＰbLb1分析线．请问有没有ＰbLb2分析线？ (1) Pb的La、Lb1是两条最灵敏线。其他线的灵敏度很低，不便于常规使用。 (2) 有ＰbLb2分析线，但其强度太弱，也就是说相对灵敏度很低，一般情况下都选用Pb的Lb1线。 32.怎么结合谱线的峰值看EDX的测
什么是xrf测试
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WDX，
XRF问题汇总（七）
61.最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 根据你所说得情况，应该是X
XRF问题汇总（一）
1. 用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？ (1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。 我的建议是： A 压样之后在破碎之前进行分析。（不得已而为之） B 增加压样的时间，减小压样的压力
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
手持XRF的应用
手持XRF是一种使用X射线荧光(XRF)技术进行元素分析的设备,具有快速、无损、高精度等特点,被广泛应用于各个领域。下面将详细介绍手持XRF的应用。 一、合金材料检测 手持XRF仪器在合金材料检测领域应用广泛,主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域的金属材料中元素成分的现场测定。这
XRF问题汇总（二）
1.请问做黄金，白金测定一定要标样吗？黄金就是普通用户的手饰什么的. (1) 做黄金，白金测定一定要标样，除非测定结果不算数 (2) 项链类的应先去污 12.用XRF测磁芯材料中的铅,要求是100PPM以下,可以测吗? 100PPM以下的铅含量完全可以测，当然不能太小，比如几个PPM就比较难测了，
XRF问题汇总（八）
71.铁基中PB的LA线除了因为AS的干扰，还有什么因素干扰？ Pb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 72.x荧光光谱报24v故障是怎么回事？ (1) 应该是提供24V的电路板有故障， 测一下24V输出，， 有问题赶快换电路板。 (2) X射线荧光谱仪的各
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
XRF仪器选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
XRF问题汇总（十）
我以ＥＤＸ７２０测定铁基镀Ｎi层（层厚５um左右），保证同材质同镀槽的前提下，测出的结果有的在３０００ＰＰＭ有的却在３００～５００ＰＰＭ 甚至没有检出，问题出在哪?基材为ＳＵＭ２４Ｌ快削钢（Ｐb＜３５００ＰＰＭ） (1) FP法测定镀层 通常我的做法是 1. FP镀层法 先做定性，根据经验分析镀层成
XRF问题汇总（六）
51.生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大,C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右.分析标样还可以 为什么会这样? (1) 我分析可能是制样导致的差距,可以多分析几个标样,看看怎样,如果标样分析不相差,只是样品分析存在差距,可以从制样过程中找原因
XRF问题汇总（九）
81.为什么长石的玻璃熔片成片后放在ＸＲＦ检测室里会破裂呢？已经是冷却的了，如果说是关系到钾钠的膨胀系数的话，那样也应该是在成片的过程中因 为系数高而应力增大才破裂，究竟是什么原因呢？检测室的温度是２５度，湿度在４５左右，环境的影响我想应该不是主要的．片子没气泡没不熔物 A.可能是玻璃片中的各组分含
XRF法测试化探样品中24种元素的研究与应用v
随着地球勘查工作的发展和区域地球化学调查工作的启动，对地质实验测试分析工作提出很多针对性要求，同时也面临着复杂的分析检测任务。地质实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低、检测范围宽、较高的准确度和精密度。地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法、电感耦合等离子体原子发射光谱法（I
金属材料实验室常用仪器优劣势简析
常见的分析仪器有，原子吸收分光光度计、原子荧光光谱仪、电感藕合等离子体发射光谱仪(简称ICP)、火花直读光谱仪(简称光谱仪)、X射线荧光光谱仪、能谱仪等。此外，还有些专属性分析仪器，如碳硫分析仪、氧氮氢三元素连测仪等。这些仪器有生产过程中扮演着不同的角色。下面谈一下各种仪器在金属材料中扮演的不同角色
成分分析测试常见的使用方法有哪些
成分分析：指通过微观谱图及激光飞秒检测分子结构对产品或样品的成分进行分析，对各个成分进行定性定量分析的技术方法。 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助
加拿大Claisse公司精彩亮相CCATM’2012
2012年11月1日，CCATM’2012 国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会在国家会议中心北京•国家会议中心盛大召开。作为研发分析熔融技术、仪器及精细化工科学的世界领头企业加拿大Claisse公司，携业内领先的预熔融硼酸盐助熔剂精彩亮相CCATM’2012 国际冶金及材料分析测试
利用LAICPMS研究锑矿区周边水稻籽粒中砷和锑分布规律
砷（As）和锑（Sb）作为优先控制环境污染物，具有较强的生物毒性。湖南锡矿山有“世界锑都”之称，Sb矿的大量开展导致矿区周边土壤As和Sb污染严重。该区域的污染调查研究较多，但大多数研究关注矿区土壤-作物体系中As和Sb的总量，而作为当地居民主食的水稻，As和Sb在其籽粒中的形态及分布鲜有关注。
XRF法在DD6单晶合金成分分析中的应用研究
DD6单晶合金是我国自主开发研制成功的第二代镍基单晶高温合金,具有良好的铸造工艺性能、高温强度高、组织稳定及综合性能好等优点。由于DD6合金中含有难溶解元素Ta、Re、W、Mo,采用传统的化学分析方法和ICP-AES法都需要对样品进行溶解处理后才能完成分析测定,难以满足现代理化检测分析进度的要求。X
关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。
XRF融片压片方法
Axios PW型波长色散X射线荧光光谱仪（荷兰帕纳科公司），最大功率4.0 kW，最大激发电压60 kV，最大电流125 mA，SST超尖锐陶瓷端窗（75 μm）铑钯X射线光管，样品交换器一次最多可放68个样品（直径32 mm），SuperQ 5.0高级智能化操作软件。各元素的测量条件列于表2-1
XRF的选型误区（三）
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层