【分享】XRF筛选方法若干问题
1．方法的范围、应用及概述 这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。 XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它的表现依赖于校准方法（校准曲线）的质量，即依赖于选择的校准物质和选择的仪器响应模式。XRF分析易受基体干扰（吸收和加强）和光谱干扰。并不是所有类型的XRF都能够适用于各种大小及形状的样品。 有一种通用的校准方法，即基本参数校准法（FP）。FP法是指用纯的元素、纯的化合物或极少数的具有一定基体组成的校准物质来进行校准的方法。对于所有的XRF校准方法，如果校准物质的组成越接近样品，测试的准确度就越高。 有一种经验校准方法，即使用校准物质，并通过运算方法来校正基体及光谱产生的干扰（校正系数）。但是这种方法要求校准物质的元素组......阅读全文
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
XRF问题汇总（七）
61.最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 根据你所说得情况，应该是X
什么是xrf测试
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WDX，
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
XRF问题汇总（八）
71.铁基中PB的LA线除了因为AS的干扰，还有什么因素干扰？ Pb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 72.x荧光光谱报24v故障是怎么回事？ (1) 应该是提供24V的电路板有故障， 测一下24V输出，， 有问题赶快换电路板。 (2) X射线荧光谱仪的各
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（一）
1. 用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？ (1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。 我的建议是： A 压样之后在破碎之前进行分析。（不得已而为之） B 增加压样的时间，减小压样的压力
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化
XRF问题汇总（四）
31.在用Ｘ－ray测Ｐb的时候有ＰbLb1分析线．请问有没有ＰbLb2分析线？ (1) Pb的La、Lb1是两条最灵敏线。其他线的灵敏度很低，不便于常规使用。 (2) 有ＰbLb2分析线，但其强度太弱，也就是说相对灵敏度很低，一般情况下都选用Pb的Lb1线。 32.怎么结合谱线的峰值看EDX的测
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
XRF问题汇总（六）
51.生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大,C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右.分析标样还可以 为什么会这样? (1) 我分析可能是制样导致的差距,可以多分析几个标样,看看怎样,如果标样分析不相差,只是样品分析存在差距,可以从制样过程中找原因
XRF问题汇总（九）
81.为什么长石的玻璃熔片成片后放在ＸＲＦ检测室里会破裂呢？已经是冷却的了，如果说是关系到钾钠的膨胀系数的话，那样也应该是在成片的过程中因 为系数高而应力增大才破裂，究竟是什么原因呢？检测室的温度是２５度，湿度在４５左右，环境的影响我想应该不是主要的．片子没气泡没不熔物 A.可能是玻璃片中的各组分含
震动筛选机的筛选范围广
震动筛选机筛选：任何颗粒、粉末、粘液一定范围内均可筛选。筛分最细至500目或O028rrlm，过滤最小可至5微米。分级筛选，可筛一至五层筛网，能同时进行二至六个等级的分选或过滤。
谷物筛选器的筛选原理是什么？
说到筛选其实我们都不会太陌生，其实它就是根据物料粒度的不同，利用一层或数层静止的或运动的筛面对物料进行分选的方法。在种子检验领域，筛选仪器的代表就是谷物筛选器，它的作用就是用于检验颗粒粮食、油料试样的含杂率及大米中、糠粉含量，由于这些检测指标与谷物的品质息息相关，因此如果要确定谷物的品质等级
X荧光光谱仪应用于地球化学样品的成分分析
随着地球勘查工作的发展和区域地球化学调查工作的启动,对地质实验测试分析工作提出很多针对性要求,同时也面临着复杂的分析检测任务.地质实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低,检测范围宽,较高的准确度和精密度.地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法,电感耦合等离子体原子发射光谱法(I
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
电动筛选器与谷物筛选器的区别
谷物筛选器和电动筛选器都是筛选器，用于粮食作物的筛选，包括种子的筛选。在育种、品质鉴定中都有非常大的作用。但是，电动筛选器和电动筛选器又是不同的，他们的运行机制也不同，但是功能却相似，都是为谷物筛选而准备的。下面我们就具体来介绍下电动筛选器和谷物筛选器。电动筛选器有DSX型电动筛选器，是根据GB54
EN71测试整体应对方案
一、EN71化学测试主要分为两部分 1、八大重金属测试 八大重金属主要包括：As 、Se、Pb、Ba、Cd、Cr、Hg、Sb。要求测试的材质包括： 2、有机有害物质的测试 有害物质有机物质包括：1、阻燃剂；2、着色剂；3、芳香胺；4、单体；5、溶剂（迁移）；6、溶剂（吸入）；7、增
CDNA文库筛选
CDNA文库筛选（一）λgt11 cDNA文库铺平板宿主细菌制备1．用一个E.coli宿主菌株单菌落分别接种2×5ml LB培养基（Y1088用于噬菌斑杂交，Y1090用于免疫筛选），于37℃振荡培养过夜。2．将过夜培养物以3000×g离心5min。3．分别用2ml λ-dil（10 mmol/L
蓝白斑筛选
实验中，通常蓝白筛选是与抗性筛选一同使用的。含X-gal的平板培养基中同时含有一种或多种载体所携带抗性相对应的抗生素，这样，一次筛选可以判断出：未转化的菌不具有抗性，不生长；转化了空载体，即未重组质粒的菌，长成蓝色菌落；转化了重组质粒的菌，即目的重组菌，长成白色菌落。目前很多实验室省去蓝白斑筛选的步
CDNA文库筛选
（一）λgt11 cDNA文库铺平板宿主细菌制备1．用一个E.coli宿主菌株单菌落分别接种2×5ml LB培养基（Y1088用于噬菌斑杂交，Y1090用于免疫筛选），于37℃振荡培养过夜。2．将过夜培养物以3000×g离心5min。3．分别用2ml λ-dil（10 mmol/L tris-Cl,
XRF的选型误区（三）
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
XRF是什么东西
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统
XRF的选型误区（一）
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
XRF的选型误区（二）
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则
关于XRF的优点介绍
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 测试元素范围大，WDX可在p
XRF光谱仪简介
X光谱计简称：XRF光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，
XRF的选型误区（四）
听别人多，看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察，一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况，作一些相互比较；另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如：以全厂质量控制为主要目的，样品种类多，需要做全分析，准确度要
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层