什么叫荷电校正？为什么需要进行荷电校正？
当用XPS 测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS 测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正(荷电校正的目的),称之为“荷电校正”。......阅读全文
什么叫荷电校正？为什么需要进行荷电校正？
当用XPS 测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS 测量绝缘体或者
如何进行荷电校正？
最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s 作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ) 来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作:1) 求取荷电校正值:C 单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)- 实际测得的C 单质峰位= 荷电校正值Δ;2) 采用荷电校正值对其
XPS图谱荷电校正
当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差。在用XPS测量绝缘体或者半导
XPS图谱如何进行荷电校正
最常用的，人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作：1) 求取荷电校正值：C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ；2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正
XPS能谱仪荷电校正（Calibration）
对于绝缘体样品或导电性能不好的样品,光电离后将在表面积累正电荷,在表面区内形成附加势垒,会使出射光电子的动能减小,亦即荷电效应的结果,使得测得光电子的结合能比正常的要高。样品荷电问题非常复杂,一般难以用某一种方法彻底消除。在实际的XPS分析中,一般采用内标法进行校准。最常用的方法是用真空系统中最常见
什么是荷电效应
对于导电性能不好的样品如半导体材料,绝缘体薄膜,在电子束的作用下,其表面会产生一定的负电荷积累,这就是俄歇电子能谱中的荷电效应.样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加了一定的额外电压, 使得测得的俄歇动能比正常的要高.在俄歇电子能谱中,由于电子束的束流密度很高,样品荷电是一个很严重的问题.有些导
什么是荷电效应
对于导电性能不好的样品如半导体材料,绝缘体薄膜,在电子束的作用下,其表面会产生一定的负电荷积累,这就是俄歇电子能谱中的荷电效应.样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加了一定的额外电压, 使得测得的俄歇动能比正常的要高.在俄歇电子能谱中,由于电子束的束流密度很高,样品荷电是一个很严重的问题.有些导
锂电池荷电保持能力和荷电恢复能力检测步骤
1、锂离子电池在(20±5)℃的环境温度下，以0.2C电流恒流放电至规定的终止电压(一般为3.0V)，然后以0.2C电流恒流充电至终止电压(一般为4.2V)，转入恒压充电(充电终止电流一般为0.02C)； 2、锂离子电池应在(20±5)℃的环境温度下开路存放28d； 3、锂离子电池应在(20
荷电效应的评价方法
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理)
荷电效应的评价方法
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理)
电子天平为什么要进行校正？
1、电子天平称量不准确的故障分析 观测内码值是否稳定，传感器各部位是否有摩擦现象，稳压电源是否稳定，运放电路是否正常，使用砝码测试秤盘四脚秤量是否平均。依照说明书指示，进一步做仪表局部分析或重量校正。 2、电子天平称重物移除后无法回到零点的故障分析 检查传感器输出信号值是否于标准内(A/D的
关于锂电池荷电保持能力的介绍
荷电保持能力即通常讲的自放电，是指在开路状态下，电池储存的电量一定环境条件下的保持能力。自放电主要是由电池材料、制造工艺、储存条件等多方面的因素决定的。通常温度越高，自放电率越大。充电电池一定程度的自放电属于正常现象。以镍氢电池为例，IEC标准规定电池充满电后，在温度为20±5°C、湿度为65±
测旋光度时为什么要进行校正
旋光仪是用来测定光学活性物质旋光能力大小和方向的仪器。光学活性物质可以旋转偏振光平面，其大小和方向除了与该物质结构有关外，还与测定时的温度、所用光的波长、溶液的浓度和溶剂、旋光管的长度等有关。一般单色光源用钠光灯，波长为589nm，以D表示。规定以每毫升溶液所含溶质的克数作为质量浓度的单位。由旋光仪
酸度计电方面的校正
酸度计电计部分校正符合要求后，校正电部分，同时准备好校正时使用的蒸馏水或去离子水和滤纸等物品。目前标准溶液有7种，一般使用以下3种溶液: 1)邻苯甲酸氢钾(KHC8H4O4) 4.003pH； 2)混合磷酸盆(Na2HPO4) 6.864 pH； 3)硼砂(Na2B4O7· l0H2O) 9.1
简述锂离子电池的荷电状态的概念
SOC，全称是StateofCharge，荷电状态，也叫剩余电量，代表的是电池放电后剩余容量与其完全充电状态的容量的比值。 其取值范围为0~1，当SOC=0时表示电池放电完全，当SOC=1时表示电池完全充满。电池管理系统（BMS）就是主要通过管理SOC并进行估算来保证电池高效的工作，所以它是电
锂电池的贮存后荷电恢复能力检测
贮存后荷电恢复能力检测主要检验锂离子电池在贮存规定的时间后，容量恢复情况。 1、锂离子电池在(20±5)℃的环境温度下，以0.2C电流恒流放电至规定的终止电压(一般为3.0V)，然后以0.2C电流恒流充电至终止电压(一般为4.2V)，转入恒压充电(充电终止电流一般为0.02C)； 2、锂离子
铝焊垫俄歇分析中荷电效应影响及其降低方法
铝焊垫表面残留物的检测是确保铝焊垫质量的重要指标。俄歇电子能谱仪(AES)由于检测区域小、表面分析灵敏度高,被广泛用于集成电路(IC)芯片制造中铝焊垫的表面成分分析,但荷电效应的存在常常会影响俄歇分析的结果。铝焊垫分析过程中,消除或者减少荷电效应是保证俄歇分析结果正确的前提。从优化俄歇电子能谱仪分析
铝焊垫俄歇分析中荷电效应影响及其降低方法
铝焊垫表面残留物的检测是确保铝焊垫质量的重要指标。俄歇电子能谱仪(AES)由于检测区域小、表面分析灵敏度高,被广泛用于集成电路(IC)芯片制造中铝焊垫的表面成分分析,但荷电效应的存在常常会影响俄歇分析的结果。铝焊垫分析过程中,消除或者减少荷电效应是保证俄歇分析结果正确的前提。从优化俄歇电子能谱仪分析
为什么校正PH测试笔的时候要多种校正液
【校正PH测试笔要多种校正液的原因】校正PH测试笔属于范围校正，一般采用多点校准，可以取得比较准确的校正值。也就是校正液配多个浓度（2-3个，分酸性、中性、碱性）的，要求是深度梯度（在线性范围内），然后根据它们的线性关系，进行校正。PH测试笔校正步骤：1、将测试笔电极浸入PH值为6.86(25℃下)
为什么要校正阿贝折射仪
阿贝折射仪的校准 仪器在测量前，先要进行校准。校准时可用蒸馏水或标准玻璃块进行(标准玻璃款标有折射率) 1. 用蒸馏水校准 (1) 将棱镜锁紧扳手松开，将棱镜擦干净(注意：用污水酒精或其他易挥发溶剂，用镜头纸擦干) (2) 用滴管将2~3滴蒸馏水滴入俩棱镜中间，合上并锁紧 (3) 调节
X射线光电子能谱xps图谱分析都包括些啥？
X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量
电伴热带为什么需要使用温度控制器
温度控制器根据工作环境的温度变化，在开关内部发生物理形变，从而产生某些特殊效应，产生导通或者断开动作的一系列自动控制元件，或者电子原件在不同温度下，工作状态的不同原理来给电路提供温度数据，以供电路采集温度数据。自限温电伴热带自身可实现对被伴热管线、罐体的温度控制，为什么还用温度控制器？自限温低温电伴
磷酸铁锂电池高温荷电保持与容量恢复能力的介绍
a）磷酸铁锂电池按1.1方法充电。 b）磷酸铁锂电池在60℃士2℃下储存7day。 c）磷酸铁锂电池在20℃士5℃下恢复5h后，以1（A）电流放电，直到放电终止电压2.0V d）用c）的电流值和放电时间数据计算容量（以A.h计），荷电保持能力可以表达为额定容量的百分数。 e）磷酸铁锂电池再
扫描电子显微镜的基本原理(三)－－荷电效应
第四节 各种信号与衬度的总结前面两节详细的介绍了扫描电镜中涉及到的各种电子信号、电流信号、电磁波辐射信号和各种衬度的关系，下面对常见的电子信号和衬度做一个总结，如图2-36和表2-4。图2-36 SEM中常见的电子信号和衬度关系表2-4 SEM中常见的电子信号和衬度关系第五节 荷电效应扫描电
为什么目镜测微尺要校正呢？
因为可能有误差，误差主要是来自不同的物镜校正的方法就是用一个有标准尺的载玻片（应该跟目镜测微尺是配套的），在每次使用不同物镜的时候，先放上这个载玻片，用目镜测微尺测量，然后记下每一格的实际长度，再用来测量你的标本
能荷的概念
能荷（energy charge)，即能量负荷，生物学术语，指在总的腺苷酸系统中（即ATP,ADP和AMP浓度之和）所负荷的高能磷酸基数量。细胞所处的能量状态用ATP、ADP和AMP之间的关系式来表示，称为能荷。
荷质比计算
质荷比，是指带电粒子质量与电荷之比（m/e或m/q）；通常说的是带电粒子的质量数与电荷数之比（m/z），其中质量数m以原子质量（au）为单位，电荷数z以质子电荷（e）为单位，因此m/z是一个无量纲数。比如，氢离子（质子）的m/z=1/1=1，带一个正电荷的甲基ch3+的m/z=15/1=15。质荷比
电子秤需要定期校正
很多商贩在使用电子秤时，都是关注到这个工具的功能，以及怎么操作。但是对于电子秤的维护和保养却完全没有注意。而这些不注意的方面恰恰就是造成误差的主要原因，所以电子秤必须是定期校正的，这个校正也是关系到商家的利益和信誉度，所以是非常重要的一件事情。只有把这个问题做到位了，客户源才会不断地增多。 电子
热工仪表多久需要校正
国家规定的有四类仪表（用于贸易结算，安全检测，环境检测，医疗卫生）为国家强制检定的，根据国家检定规程规定为半年，或一年。其它的企业自己制定校验周期。国家没有强制要求。自己制定的周期一般为1年，2年，3年，5年。
发酵罐的PH电极为什么在生物反应前要进行校正
发酵罐的PH电极为什么在生物反应前要进行校正 1、发酵前：要首先检查PH电极的准确度并进行校验纠正。因为PH检测装置在使用一段时间特别是经过低温消毒后，电极内部的参比电极、缓冲液等的理化性质都会发生一定的变化，如果不及时进行整定，就会在使用中造成漂移。因此每次使用前都要纠正这一偏差。 2、发酵中