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无论使用 HCL 或 Xe 弧灯、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子荧光光谱的原子化器，开展对碱金属、碱土金属以及过渡金属元素的原子荧光光谱研究；普通 HCL 与 Xe 弧 灯作激发源的 Ar MIP-AFS 对所研究元素的原子荧光光谱的检出限基本相当，都表现为碱金属、碱土金属元素的检出限比其他过渡金属元素好的特点，对难熔元素，如 Al、Cr 等的检出限最差；用 He MIP 作原子化器的原子荧光光谱的检出限比 Ar MIP-AFS 要好，检出限的改善一般在几倍至几十倍，最高可达50倍。对 MPT 的研究表明，它是性能优异的原子化器、离子化器。下图是 Eu HCMP-HCL 为激发光源的 MPT- AFS/IFS 实验结果。与 ICP 作原子化器、离子化器进行荧光光谱 研究的结果相似，MPT 荧光光谱中也发现了原子荧光信号和离子 荧光信号，但不同的是 MPT 荧光光谱中的原子荧光谱线要比 ICP 中的丰富，且原子荧光信号强......阅读全文
无论使用 HCL 或 Xe 弧灯、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子荧光光谱的原子化器，开展对碱金属、碱土金属以及过渡金属元素的原子荧光光谱研究；普通 HCL 与 Xe 弧 灯作激发源的 Ar MIP-AFS 对所研究元素的原子荧光光谱的检出限基本相当，都表现为碱金属、碱土金属元素的检出限比其
对 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被测元素，尤其是难熔金属元素的检出限，使该技术能满足痕量、超痕 量金属元素分析的要求。由于 ICP 优异的高温性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待测元素原子的电离度，增加待测元素粒子数密度，因此，ICP-IFS 是解决难熔元素原子荧光光谱测定灵
1、 空心阴极灯的强短脉冲供电电源与 DC-HCL 或 CP-HCL 供电电源相比，HCMP-HCL 供电电源需要进行特殊设计，电源要提供微秒宽度的脉冲，峰值工作电流 一般为几安培，最大可到十几安培。下图所示为强短脉冲电源示意图。强短脉冲供电时，HCL 工作在大电流状态，电流一般为几安培，对个别元素
使用短炬管的 ICP 原子化器、离子化器进行原子/离子荧光信号观测时，观测区域一般也是在等离子体的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析时的等离子体功率低，一般为800W 左右。对 HCMP-HCL 激发的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于荧光信号观测区域的等离子体温度较
加长炬管ICP原子/离子荧光光谱利用 Plasa/AFS 2000系统中加长炬管 ICP 为原子化器/离子化器进行等离子体原子/离子荧光光谱研究，原因之一是充分利用已有的硬件设备，尤其是系统本身的等离子体光源以及元素组件，二 是建立的等离子体原子/离子荧光光谱检测系统可直接与 Plasa/ AFS
痕量、超痕量金属元素的检测是实验室日常工作中经常遇到的问题。金属元素最常用的测定方法主要有 ICP-AES、石墨炉原子吸收光谱（GFAAS）、火焰原子吸收光谱（FAAS）和原子荧光光谱分析技术。ICP-MS 是最近一些年快速发展起来的一种痕量、超痕量元素分析技术，其优异的分析性能，如灵敏度高、动态线
MPT原子化器微波等离子体炬（MPT）是微波诱导等离子体的一种， 是1985年由金钦汉等提出并进行改进的一种新型光谱光源。MPT 装置的整体结构类似于 ICP 炬管，如下图所示，由三个同心金属管组成，外管的内径为22mm，外径为26mm；中间管的内径为 4.5mm，外径为5.5mm；内管（中心管）
Perkins 等采用 TM010 腔获得的低功率 MIP 为原子化 器，通过使用普通 HCL 或 Xe 弧灯为激发光源、Ar 或 He 为 工作气体研究了多种元素的原子荧光光谱，证明 MIP 也可用作原子荧光光谱的原子化器。在 Perkins 等此建立的研究系统中，样品经气动雾化后不 经去溶直接进
色散型原子荧光光谱仪的光学系统由激发光源、原子化器、单色器及接收放大器组成。色散系统对分辨能力要求不高，但要求有较大的集光本领，常用的色散元件是光栅。为了提高原子荧光辐射强度，通常在激发光源的入射光路采取一系列措施，如采用全反射装置、双椭圆反射镜和卡塞格伦反射镜系统等。由于原子荧光辐射强度比较弱、谱
原子化器是原子荧光光谱仪中一个直接影响元素分析的灵敏度 和检出限的关键部件，其主要作用是将被测元素（化合物）原子化形成基态原子蒸气。一个理想的用于原子荧光光谱仪的原子化器应具有下列特点：①原子化效率高，被测原子的密度大；②在光路中原子有较长的停留时间；③在测量波长处具有较低的背景辐射；④均匀性和稳定