SDD和SiPIN有什么区别

SDD和Si-PIN是手持式光谱仪探测器的种类,SDD可以让测样速度更快,但是价格更高,一般主流品牌如尼通、依瓦特两种探测器都有,看型号......阅读全文

SDD和SiPIN有什么区别

SDD和Si-PIN是手持式光谱仪探测器的种类,SDD可以让测样速度更快,但是价格更高,一般主流品牌如尼通、依瓦特两种探测器都有,看型号

基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨

本文分析不锈钢样品并进行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通过Pu-238同位素源和微功耗X光管激发对比,以及SDD和Si-PIN探测器探测对比,评价SDD探测器在不锈钢主成分X射线荧光分析中的应用效果。实验中Pu-238同位素源采用双源对称布置,总活度为1.48×109Bq;X光管为Rh靶端窗结构,

以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD

仪器介绍: XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作,它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点: 1. 真正实现了快速,准确的检测,直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。

HL2A装置SDD软X射线能谱测量结果

用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z=0)得到加热

硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断

采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1~20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

分析型sdd探测器有没有superatw-20mm2活区

SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等 性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验 对比,SDD探测器在性能指。

日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪

  2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。  日立分析仪器XR

日立发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪-XStrata920

  英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。  日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子

选择性肠道脱污染治疗内毒素血症

  选择性肠道脱污染(selective decontamination of the digestive tract, SDD)是基于定植抗性原理设计的一种局部使用胃肠道不吸收的抗生素的给药方法,选择性抑制口咽及上消化道潜在致病微生物,而使厌氧菌群不受损伤。经过10余年的应用,目前对SDD治疗的观

您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器?

在购买手持式XRF分析仪时,确定需要硅漂移探测器(SDD)还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。 奥林巴斯Vanta Element XRF系列中的两款分析仪就配备了两种不同的探测器:Vanta Element分析仪装配有PIN探测器,而Vanta Element-S分析仪装配有SDD探测器。

如何选择X射线荧光分析仪的探测器?

  真正评估一款分析仪是否合适,是了解它可以为您想要检测的元素提供怎样的分析结果。首先要从探测器上进行选择:  X射线荧光分析仪的探测器类型:PIN还是SDD  手持式XRF分析仪有两种类型的探测器:PIN和SDD。PIN探测器是一种较为落后的技术,与SDD(硅漂移探测器)相比,价格更便宜,不过,其

【专利】一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法

  一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法  申请号:CN202310715601.X  申请日:20230616  公开(公告)日:20230922  申请(专利权)人:南京航空航天大学  发明人:贾文宝; 单卿; 罗阳雪; 张新磊; 张纪伟  摘要:本发明公开了一种基于XRF的盐湖卤水在

致盲性眼病与心脏病和中风密切相关

“在过去的30年里,研究人员一直认为AMD和心血管疾病之间存在联系,但直到现在还没有确凿的数据。我们的视网膜团队通过聚焦于两种不同的AMD来回答这个重要的问题,这两种AMD可以通过先进的视网膜成像技术看到。我们发现只有一种形式的AMD,即视网膜下窦样沉积物,与高风险的血管疾病密切相关,而另一种形式的

新型高功函数异质结X射线硅漂移探测器研究获进展

  近日,中国科学院微电子研究所高频高压中心研究员贾锐团队,在中国工程院院士欧阳晓平指导下,创新性地将高功函数钝化接触异质结技术应用到硅漂移探测器(SDD)中,成功研制出新型SDD核心元器件。目前,该团队在硅异质结漂移探测器的器件设计、工作机理和工艺制备等方面形成了核心竞争力,并具有完全自主知识产权

一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法

硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)对1~10keV软X射线具有较高的探测效率和较高的能量分辨,将其应用于X射线脉冲星导航中微弱X射线探测,可以减小探测器面积同时提高信噪比。本文提出了一种易于实现的基于SDD的能谱测量方法。分析了将SDD探测器输出的原始阶梯信号整形成

色谱仪基本信息

型号:N2000(SP1)规格:N20004.0产量:8000套/年海关编号:4564651341商标:智达射线种类:紫外色谱仪类型:液相色谱仪气路系统:双路检测器:FID能谱仪探测器:SDD能量分辨率:≤7%型号:N2000(SP1)规格:N20004.0产量:8000套/年海关编号:456465

如何利用矢量网络分析仪测量TDR时域阻抗

测量所需仪器第一步:测量设置首先要设置所需要的起始频率和终止频率。然后点击右侧时域按钮,进入时域设置状态。点击时域变换按钮,弹出时域变换对话框后,在变换模式中选择低通阶跃,然后选中时域变换。接上一步,将时域变换勾除掉。第二步:电子校准选择全四端口校准,根据校准件和被测件选择校准方式和连接方式。按照向

善时iEDX150WT电镀厚度测量仪的四个基本特点

  电镀厚度测量仪利用特殊高新科技,对镀层等厚度极薄的材料实现厚度测量,被广泛的使用在各行各业中。它具有4个基本特点。   一、:电脑软件控制   为确保电镀厚度测量仪在使用过程中具备高标准的测试结果,其采用电脑软件进行控制,同时为方便使用者读取数据,还结合使用了液晶显示器,更加清晰的显示屏,避

新研究:精准基因编辑技术

  中国科学院遗传与发育生物学研究所高彩霞研究组开创性地运用AI辅助结构预测,建立起基于三级结构的蛋白聚类方法,并扩展为全新的脱氨酶挖掘体系,开发了一系列具有中国自主知识产权的新型碱基编辑工具。该工作为蛋白功能分析、新功能元件挖掘提供了全新策略。新研发的碱基编辑系统具有我国自主知识产权的精准基因编辑

AI辅助创新蛋白聚类方法开发新型碱基编辑工具

  中国科学院遗传与发育生物学研究所高彩霞研究组开创性地运用AI辅助结构预测,建立起基于三级结构的蛋白聚类方法,并扩展为全新的脱氨酶挖掘体系,开发了一系列具有中国自主知识产权的新型碱基编辑工具。该工作为蛋白功能分析、新功能元件挖掘提供了全新策略。新研发的碱基编辑系统具有我国自主知识产权的精准基因编辑

高灵敏度X射线荧光光谱仪的特点

  高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力,快速基本参数法(Fast FP)提升元素精确定量水平,两项核心技术的结合,为XRF元素检测带来新的应用前景。  1、单色化聚集激发技术  高灵敏度X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶单色化器,优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景,提升元素荧光射

牛津仪器成功安装1000台XMax超大面积能谱探头

  牛津仪器纳米分析部在电子显微镜的能谱分析技术方面处于世界领先地位,该部近日刚刚成功安装完成第1000台X-Max超大面积SDD能谱探头。迄今为止,该设备为世界上唯一一台具有80mm2晶体活区的探头,投入市场仅仅两年就已达到令人瞩目的成绩。德国柏林的Atotech公司继之前三台X-

了解XRF中的常用“密语”,为检测加速

  查看X射线荧光(XRF)相关的内容时,您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南,来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。  XRF  XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有:  EDXRF

简述能谱仪的性质指标

  固体角:决定了信号量的大小,该角度越大越好  检出角:理论上该角度越大越好  探头:新型硅漂移探测器(SDD)逐步取代锂硅Si(Li)探测器  能量分辨力:最高级别的能谱仪分辨力可达121eV  探测元素范围:Be4~U92

能谱仪性能指标

固体角:决定了信号量的大小,该角度越大越好检出角:理论上该角度越大越好探头:新型硅漂移探测器(SDD)逐步取代锂硅Si(Li)探测器能量分辨力:目前最高级别的能谱仪分辨力可达121eV探测元素范围:Be4~U92

土壤重金属分析仪的性能

土壤重金属分析仪的性能  1. 超高的检测精度精确度高。  2. 超高的稳定性,超高的重复性。  3. 优异的线性相关性。  4. 铑元素阳级本身就提高了2倍检测镁元素的结果。  5. 超大型SDD硅漂移探测器的使用将从镁到硫元素的检测下限/精度提高了四倍。  6. 超大型SDD硅漂移探测器的使用提

手持式合金分析仪的特点是什么?

  特点  ——便携、高效、准确可以在质量控制、材料分类、合金鉴别、事故调查等现场应用。  ——选配小点瞄准模式,可检测被检测面积较小的样品,如:焊点、焊缝。  ——高性能硅漂(SDD)探测器(25平方毫米),即可分析Mg、Al、Si、P等轻元素。  可分析元素分析范围  一般可以分析的元素范围为N