XRF分析的熔片法程序

1.加热样品和硼酸盐助熔剂的混合物,直到助熔剂融化;2.继续加热直到样品溶解到助熔剂中,并搅拌以使熔体均匀化;3.将熔融玻璃倒入热模中;4.冷却以获得坚固的玻璃盘,无需任何其他处理即可进行X射线测量。要进行融合实验,必须了解使用的工具,融合混合物的成分,融合前的准备工作以及融合程序。将考虑所有这些,并且对于不熟悉该主题的读者,现在描述不失败的原始融合过程。......阅读全文

XRF分析的熔片法程序

1.加热样品和硼酸盐助熔剂的混合物,直到助熔剂融化;2.继续加热直到样品溶解到助熔剂中,并搅拌以使熔体均匀化;3.将熔融玻璃倒入热模中;4.冷却以获得坚固的玻璃盘,无需任何其他处理即可进行X射线测量。要进行融合实验,必须了解使用的工具,融合混合物的成分,融合前的准备工作以及融合程序。将考虑所有这些,

请问高频感应熔样机有哪些优势?

  · 采用高频感应加热系统;  · XRF分析用玻璃熔片,AAS和ICP分析用溶液  · 高精度红外测温系统结合PID智能温度控制;  · 采用集操作和显示于一体的触摸屏人机界面;  · PLC智能控制系统,可预存储5套常用制样程序;  · 按预氧化→加热熔化→摆动摇匀→浇铸成型→冷却过程设定好熔

XRF的分析

  a) X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已完全成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。  b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量有关。  c) 根据各元素的特征X射线的强

XRF光谱法分析无机元素优缺点

优点1.被测样品不需前处理,仪器操作方便、快捷,实时得出分析结果;2.对大块样品非破坏性、无损检测,特别适合贵金属成分分析;3.便携式XRF光谱仪对固体、粉末、液体能做到现场实时分析出结果,是野外工作者很好的分析工具;4.因为不需用到任何化学试剂,整个分析过程不会对环境造成污染,同时有效保护分析人员

XRF元素定量分析的经验系数法介绍

  经验系数法不可避免的问题是离不开标准样品,如果存在元素之间的吸收增强效应,为了通过最优化算法得到元素之间互相的影响系数,需要的标准样品的个数会更多。即使有足够多的合格标准样品(通常是比较难的),得到的数学模型的适用范围也会受限,通常不能超出标样涵盖的范围。之所以多数X射线荧光分析仪分析的元素种类

XRF分析仪样品制备化学富集法的介绍

   1)沉淀法  螯合物沉淀法(DDTC法)是使溶液中的各金属阳离子与螯合物试剂反应后沉淀过滤,鳌合物沉淀剂常用的有DDTC(铜试剂)、PAN(1-(2-吡啶偶氮)-2-萘酚),8-羟基喹啉,其特点是均可与近20种元素产生螯合物沉淀。  沉淀法是加入适合于溶液中各元素的沉淀剂和共沉淀剂使之反应,然

材料成分分析利器XRF-UniQuant-独特的无标样分析技术

   XRF(X射线荧光光谱仪)已在各类材料分析中广泛应用,然而,在实际样品分析中,标样的制备是决定分析结果准确程度的重要因素。赛默飞世尔科技的UniQuant无标样技术则可以在不需要标样的情况下进行任何尺寸、形状和状态样品的快速定性、定量、非破坏性的元素分析。2011年4月28

XRF融片压片方法

Axios PW型波长色散X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科公司),最大功率4.0 kW,最大激发电压60 kV,最大电流125 mA,SST超尖锐陶瓷端窗(75 μm)铑钯X射线光管,样品交换器一次最多可放68个样品(直径32 mm),SuperQ 5.0高级智能化操作软件。各元素的测量条件列于表2-1

谈谈熔体流动速率实验机的主要工作程序

  熔体流动速率实验机适用于《GB/T3682-2000热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定》国家标准中对规定的热塑性塑料熔体质量流动速率的测定该标准等同采用了ISO1133:1997标准的规定。   熔体流动速率实验机的工作程序说明:   1.试样制备:试样可为粉料、粒料、薄膜碎

XRF分析的基本介绍

  XRF分析是一项成熟的技术,利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时,一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质,

XRD分析与XRF分析的异同

1,用途不同。XRD是x射线衍射光谱,(X-ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的,而XRF是x射线荧光发射谱,(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于Na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、

XRD分析与XRF分析的异同

1,用途不同。XRD是x射线衍射光谱,(X-ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的,而XRF是x射线荧光发射谱,(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于Na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、

XRD分析与XRF分析的异同

1,用途不同。XRD是x射线衍射光谱,(X-ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的,而XRF是x射线荧光发射谱,(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于Na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、

布ELISA法的主要程序

⑴ 首先把抗布氏杆菌的血清包被(吸附)在聚脂布上,并经洗涤及封闭;⑵ 加被检样品并于室温下感作30分钟,然后洗5次;⑶ 加酶标记的抗布氏杆菌抗体,于室温下感作30分钟,然后洗涤5次;⑷ 加入底物液显色;⑸ 测定OD值。

用于-X-射线荧光光谱法分析的待测样品玻璃熔片制备和测定专利获批

  国家知识产权局信息显示,广东中南钢铁股份有限公司申请一项名为“用于 X 射线荧光光谱法分析的待测样品玻璃熔片制备方法和测定方法”的专利,公开号 CN 118777347 A ,申请日期为 2024 年 7 月。  专利摘要显示,本发明公开了一种用于 X 射线荧光光谱法分析的待测样品玻璃熔片的制备

全自动电热熔样炉应用于X荧光分析前样品处理方案

  XRF Scientific公司有着25年的熔样技术和经验,提供无污染的应用方案。XRF Scientific公司的命名直接体现了X射线荧光光谱法应用于分析矿物样品的技术。   xrFuse系列是基于稳健、可靠的技术而设计的,为地矿工业高通量及长工作时间的应用而开发的一款全自动电热熔样炉。我们

XRF问题汇总(九)

81.为什么长石的玻璃熔片成片后放在XRF检测室里会破裂呢?已经是冷却的了,如果说是关系到钾钠的膨胀系数的话,那样也应该是在成片的过程中因 为系数高而应力增大才破裂,究竟是什么原因呢?检测室的温度是25度,湿度在45左右,环境的影响我想应该不是主要的.片子没气泡没不熔物 A.可能是玻璃片中的各组分含

X荧光光谱仪应用于地球化学样品的成分分析

随着地球勘查工作的发展和区域地球化学调查工作的启动,对地质实验测试分析工作提出很多针对性要求,同时也面临着复杂的分析检测任务.地质实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低,检测范围宽,较高的准确度和精密度.地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法,电感耦合等离子体原子发射光谱法(I

XRF检测的理论影响系数法介绍

  对多数类型的样品,总有一些XRF无法探测到的元素(H-F)存在,往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度,是样品中基体组成部分,而其它元素的峰强度与基体组成直接相关,X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点,这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。  理论影响

程序升温色谱法

程序升温色谱法 programmed temperature (gas) chromatography 在气相色谱分析中,色谱柱温度对分离效能有重要影响,当样品中所含组分沸程较宽时,应采用程序升温色谱法。所谓程序升温色谱法,是指色谱柱的温度按照组分沸程设置的程序连续地随时间线性或非线性逐渐升高,使柱

X 射线荧光制样方法浅谈(一)

导言: 第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF版面的专家ljzllj先生就 XRF制样的方法与大家一起交流切磋。ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。对XRF的仪器比较熟悉。欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XR

关于XRF的基本分析

  当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的。  根据

XRF分析仪的用途

XRF分析仪用于需要辨别材料的化学成分或样件合金牌号的应用中。便携式XRF分析仪可在野外现场采用堪比实验室的技术对那些庞大、笨重或运送成本很高的样品进行检测。在现场进行分析可以实时提供信息,使用户迅速做出决策。

XRF分析技术的相关介绍

  XRF分析是一项成熟的技术,利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时,一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质,

关于XRF的定性分析

  不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。事实上,在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干

样品制备影响XRF定量精度的介绍

  XRF样品制备简单,但并非无需样品处理,XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求,这些方面都会不同程度影响分析精度,使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响,譬如:研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。

XRF测试结果分析方式

定性分析不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。事实上,在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱

布ELISA法的操作程序

(C-ELISA) C-ELISA(Cloth-ELISA)是加拿大学者Blais,B. W.等于1989年建立的一种新型免疫检测技术。该方法是以疏水性聚脂布(Hydrophobic Polyester Cloth)即涤纶布为固相载体,这种大孔径的的疏水布具有吸附样品量大,可为免疫反应提供较大的表面

斑点ELISA法的操作程序

常规的微量板ELISA比较,Dot-ELISA具有简便、节省抗原等优点,而且结果可长期保存;但其也有不足,主要是在结果判定上比较主观,特异性不够高等。该方法的主要操作程序为:⑴载体膜的预处理及抗原包被 取硝酸纤维素膜用蒸馏水浸泡后,稍加干燥进行压圈。将阴性、阳性抗原及被检测抗原适度稀释后加入圈中,置

布ELISA法的操作程序

(C-ELISA) C-ELISA(Cloth-ELISA)是加拿大学者Blais,B. W.等于1989年建立的一种新型免疫检测技术。该方法是以疏水性聚脂布(Hydrophobic Polyester Cloth)即涤纶布为固相载体,这种大孔径的的疏水布具有吸附样品量大,可为免疫反应提供较大的表面