XRF测量物质高分子化合物的基本介绍
高分子化合物的分子比低分子有机化合物的分子大得多。一般有机化合物的相对分子质量不超过1000，而高分子化合物的相对分子质量可高达104～106。由于高分子化合物的相对分子质量很大，所以在物理、化学和力学性能上与低分子化合物有很大差异。 高分子化合物的相对分子质量虽然很大，但组成并不复杂，它们的分子往往都是由特定的结构单元通过共价键多次重复连接而成。 同一种高分子化合物的分子链所含的链节数并不相同，所以高分子化合物实质上是由许多链节结构相同而聚合度不同的化合物所组成的混合物，其相对分子质量与聚合度都是平均值。 高分子化合物几乎无挥发性，常温下常以固态或液态存在。固态高聚物按其结构形态可分为晶态和非晶态。前者分子排列规整有序；而后者分子排列无规则。同一种高分子化合物可以兼具晶态和非晶态两种结构。大多数的合成树脂都是非晶态结构。 组成高分子链的原子之间是以共价键相结合的，高分子链一般具有链型和体型两种不同的形状。 当今世......阅读全文
XRF光谱仪的使用型态介绍
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析
XRF合金分析仪的原理介绍
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。 每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道
XRF熔融制片方法的相关介绍
X射线荧光分析法是一种现代仪器分析方法，具有分析迅速、非破坏性分析、光谱不受化学状态的影响、分析精度高、分析范围广（4Be～92U）、定性定量分析、样品制备简单等优点。 仪器装置分为X射线发生装置、分光装置、计数记录装置。
便携式XRF仪器的优点介绍
与传统元素分析技术相比，便携式XRF仪器最大的优点就是不会损坏样品，是完全无损的分析技术。 与台式XRF仪器相比，便携式XRF仪器很轻，小的仪器重量约3Kg 左右，单手就轻易握住，很方便就可以携带至检测现场。用户不再需要将样品送到实验室检测，所以也不需要再切割损坏样品。极大提高了检测效率，降低
XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
XRF光谱仪的主要部件介绍
1、X射线管：仪器的一部分，产生照射样品的X射线。2、光圈：光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决定光斑尺寸——正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。3、探测器：与相关电子设备一并处理从样品中激发出的X射线：探测X射线的能量和强度。4、对焦系统：确保每次测量中X射线管、
XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够
样品制备影响XRF定量精度的介绍
XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
源激发类型XRF的优缺点介绍
源激发类型的仪器结构简单、紧凑，特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象，其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减，但这种衰减是遵循可描述的物理规律的，也就是说是我们可以准确计算出来的，而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长，在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于，它发出的X射线
定量模型影响XRF定量精度的介绍
XRF定量模型的建立要充分考虑标准样品的选择、基体的匹配、校正算法的建立、目标样品的适用性等，这些方面都会影响到定量精度，往往这些方面需要分析工作者有丰富的经验。
XRF连续测量两次的结果偏差比较大的原因分析？
一般仪器同等条件测试的结果偏差大，有以下两种原因：1.样品的不均匀造成的。2.仪器内部的对比的数据被人为更改。3.仪器收到外界干扰，如：电源的干扰。4.仪器发生硬件故障。以上的故障中，非硬件故障，只要重新校对即可。
高分子化合物按用途分类介绍
可分为通用高分子，工程材料高分子，功能高分子，仿生高分子，医用高分子，高分子药物，高分子试剂，高分子催化剂和生物高分子等。 塑料中的“四烯”（聚乙烯、聚丙烯、聚氯乙烯和聚苯乙烯），纤维中的“四纶”（锦纶、涤纶、腈纶和维纶），橡胶中的“四胶”（丁苯橡胶、顺丁橡胶、异戊橡胶和乙丙橡胶）都是用途很广
XRF的分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
XRF的优点
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。测试元素范围大，WDX可在ppm-100%浓
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF的优点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
基本烟气测量
1. 测量环境空气温度（AT）烟气探针置于燃烧器的进风口以测量环境空气温度。这个温度值被保存或者将由 特定环境温度探头连续测量。在计算烟气损失时，需要用到环境温度。 2. 测量烟气损失（qA）烟气探头在测量开始时放入烟气管道中。在持续温度测量中，烟气的热点即烟温zui高被寻获
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成；X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
各种物质的导热系数准确测量方法
导热系数的测量方法很多，根据不同的测量对象和测量范围有各种适用的方法。从传热机理上分，包括稳态法和非稳态法；稳态法包括平板法、护板法、热流计法等；非稳态法又称为瞬态法，包括热线法、热盘法、激光法等。根据试样的形状又可以分为平板法、圆柱体法、圆球法、热线法等。还有直接法和简介法的分类，如激光法是先获得
关于高分子化合物的缩聚反应的介绍
缩聚反应指具有两个或两个以上官能团的单体，相互缩合并产生小分子副产物（水、醇、氨、卤化氢等）而生成高分子化合物的聚合反应。如： 单体中对苯二甲酸和乙二醇各有两个官能团，生成大分子时，向两个方向延伸，得到的是线型高分子。 苯酚和甲醛虽然是单官能团化合物，但它们反应的初步产物是多官能团的，这些多
关于高分子化合物的加聚反应的特点介绍
（1）加聚反应所用的单体是带有双键或叁键的不饱和键的化合物。例如，乙烯、丙烯、氯乙烯、苯乙烯、丙烯腈、甲基丙烯酸甲酯等，者是常用的重要单体，加聚反应发生在不饱和键上。 （2）加聚反应是通过一连串的单体分子间的互相加成反应来完成的： 而且反应一旦发生，便以连锁反应方式很快进行下去得到高分子化合
奥林巴斯XRF光谱仪在铅汞有害物质筛查的重要运用
奥林巴斯XRF光谱仪在各个工业领域都有它们的身影，食品、厨具、医疗，一切家居金属材质都有可能含量铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚等六种有害物质的电工电子产品的限用管理方法，包括白家电、黑家电、电动工具、医院电器等。这些含有有害物质的日常产品，一旦出现在我们的生活中，和我们的人体有着密切接触，
XRF测试
XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
X荧光光谱仪（XRF）的基本原理
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和x射
X射线荧光光谱仪（XRF）的基本分类
作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。 按激发、色散和探测方法的不同，分为： X射线光谱法（波长色散） X射线能谱法（能量色散）
X射线荧光（XRF）仪的结构组成介绍
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器