上海光源等X射线角波动相干光谱方法学研究取得新突破
中科院上海应用物理研究所上海光源的陈刚研究员通过与美国劳伦斯伯克利国家实验室以及太平洋西北国家实验室的课题组合作，从理论上将X射线角波动相干光谱方法进一步推广到多粒子混合体系的结构分析中，利用这一方法有望实现实时原位地追踪蛋白分子形变以及纳米材料的生长和自组装过程。这一成果已在线发表于物理杂志Physical Review Letters [ PRL 110, 195501 (2013)]. 一直以来，原子层面的结构通常是利用X射线晶体学方法得到的，在实验中通过将生物大分子等材料在空间进行有序地排列从而增强X光散射信号，然而对无定型和非晶材料以及病毒和膜蛋白等难以结晶材料的结构分析却是长期以来困扰科学界的难题。 随着同步辐射光源的发展以及X射线自由电子激光的出现，一种基于单分子衍射的成像技术为解决这一科学难题带来了希望 ，因此受到了广泛的关注，但是这一方法在实验和理论上仍然存在着诸多挑战，比如纳米量级的样品......阅读全文
X射线测角仪的原理
测角仪与德拜相机有许多相似之处。平板试样安装在试样台上，后者可围绕垂直于图4中的轴O旋转。S为X射线源，即X射线管靶面上的线状焦斑，它与图面相垂直。当一束发散X射线照射到试样上时，满足布拉格关系的某种晶面，其反射线便形成一根收敛光束。RS为接收狭缝，它与计数管D一起安装在围绕O旋转的支架上。当计数管
X射线测角仪的简介
中文名称X射线测角仪英文名称X-ray goniometer定 义在X射线分析法中，用于测量入射X射线束与衍射X射线束之间夹角的仪器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低
X射线衍射仪测角仪的相关介绍
测角仪是X射线衍射仪测量中最核心部分，用来精确测量衍射角。 工作原理：在试样台C处装好试样，，入射线从X射线管焦点S发出，经入射光阑系统A投射到试样表面产生衍射，衍射线经接收光阑系统B、F、G进入计步器E。S、F在同一圆周（测角仪圆）上。试样台和计数器分别固定在两个同轴的圆盘上，由两个步进马达
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
表面层外全反射角X射线能谱微分析
电子探针微区分析(EPMA,XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难,无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作在通常的X射线微区分析设备上,采用外全反射角X射线能谱微分析方法,通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定,探索出一种区分膜成分和体相成分的新方法。结果表明
薄膜外全反射角X射线能谱分析研究
电子探针微区分析(EPMA，XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难，无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作首先从理论上探讨了薄膜产生全反射的的条件，然后在通常的x射线微区分析设备上，采用外全反射角X射线能谱微分析方法，通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定，探
上海光源等X射线角波动相干光谱方法学研究取得新突破
中科院上海应用物理研究所上海光源的陈刚研究员通过与美国劳伦斯伯克利国家实验室以及太平洋西北国家实验室的课题组合作，从理论上将X射线角波动相干光谱方法进一步推广到多粒子混合体系的结构分析中，利用这一方法有望实现实时原位地追踪蛋白分子形变以及纳米材料的生长和自组装过程。这一成果已在线发表于物理杂志P
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
X射线散射
美国物理学家康普顿（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室，主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长，并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到
X射线治疗
X射线应用于治疗[7]，主要依据其生物效应，应用不同能量的X射线对人体病灶部分的细胞组织进行照射时，即可使被照射的细胞组织受到破坏或抑制，从而达到对某些疾病，特别是肿瘤的治疗目的。
X－射线激光
X 射线激光指的是 XFEL （x-ray free-electron laser），X 射线自由电子激光。而这种激光，是将自由电子激光技术（FEL）产生的激光，拓展到 X 射线范围内而产生的一种 X 射线激光。这种激光的强度可达传统方法产生的激光亮度的十亿倍，因此可让较小晶体产生出足够强的衍射图样
X射线光谱
1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线，取得了重大成果。莫塞莱发现，以不同元素作为产生X射线的靶时，所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后，发现其次序与元素周期表中的次序一致，他称这
X射线原理
X射线定义X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波。其波长很短约介于0.01~100埃之间。X射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片
X射线诊断
X射线应用于医学诊断[6]，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样，这样便携带了人体各部密度分布的信息，在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用的强弱就有较大
什么是连续X射线和特征X射线谱
连续X射线，是电子跑着跑着突然被原子核拉住，能量没地儿放，于是放出X射线，这里放出的能量是连续的。特征X射线是处于特定能级的电子吸收光子，处于激发态，跑到低能级上放出的能量，故是一份一份的，具有明显衍射峰。介绍阴极射线的电子流轰击到靶面，如果能量足够高，靶内一些原子的内层电子会被轰出，使原子处于能级
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
x射线衍射仪和x射线机有什么不同
X射线衍射仪和X射线机有什么不同我觉得X射线机是用来照射X光线X射线衍射线一他是用来衍射的他俩不同
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
高频X射线机和工频X射线机的区别
高频机与工频机的不同 高频机是指高压发生器的工作频率大于20kHz的X线机，工频机是指高压发生器的工作频率小于400Hz的X线机。工频机将50Hz的工频电源升高压整流后有100Hz的正弦纹波，经滤波后仍有10％以上的纹波，高频机工作频率高，高压整流后的电压基本上是恒定的直流，纹波可小于0.1％
X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较
X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较 (1)物理特性 X射线束能缩减为很小的一点，其结构几何形状不受限制，而γ射线则不能做到，因此光子强度会急骤减少以致噪音大幅度增加。 (2)信号/噪音比 X射线测厚仪：X射线的高光子输出，能带来比γ射线在相同时间常数下约好10倍的噪音系数。 (3)反应时间
X射线与γ射线的相关介绍
X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。 X射线与γ射线有许多类似的特性，但它们起源不同。 X射线由原子外部引起，而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低，因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞，由于它的广泛运用
X射线的应用
X射线诊断 X射线应用于医学诊断[6]，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样，这样便携带了人体各部密度分布的信息，在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用
X射线谱仪
X射线谱仪简介编辑X射线谱仪设计有20路探测器，是此次载荷中探测器路数最多的系统，为有效预防多路探测器之间相互干扰，在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令，以提高探测器在轨长期工作的可靠性 [1] 。X射线谱仪指向月面，由16路硬X射线半导体探测器阵列，4
X射线衍射仪
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线衍射仪的英文名称是X-ra
X射线检测原理
X射线检测是利用X射线技术观察、研究和检验材料微观结构、化学组成、表面或内部结构缺陷的实验技术。如X射线粉末衍射术、X射线荧光谱法、X射线照相术、X射线形貌术等。(1)x射线的特性 X射线是一种波长很短的电磁波，是一种光子，波长为10~10cm x射线有下列特点： ①穿透性 x射线能穿透一般可见
X射线的特性
X射线是一种波长极短，能量很大的电磁波，X射线的波长比可见光的波长更短（约在0.001～100纳米，医学上应用的X射线波长约在0.001～0.1纳米之间），它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。[5] 物理特性 1、穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所
X射线衍射分析
建立在X射线与晶体物质相遇时能发生衍射现象的基础上的一种分析方法。应用这种方法可进行物相定性分析和定量分析、宏观和微观应力分析 。① 物相定性分析:每种晶体物相都有一定的衍射花样，故可根据不同的衍射花样鉴别出相应的物相类别。由于这种方法能确定被测物相的组成，在机械工程材料特别是金属材料的研究中应用
X射线的原理
产生X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能（其中的1%）会以光子形式放出，形成X光光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.