民企深圳天瑞仪器有限公司囊括两个世界第一
日前，江苏天瑞信息技术有限公司开发出最新一代便携式X射线荧光分析仪，从而拥有了台式、立式、便携式和专业型等20个型号，成为全球同行业中拥有X射线荧光分析仪品种最齐全的公司。与此同时，到今年10月底，天瑞产品SKYRAY EDX系列X荧光光谱仪销售数量继续保持全球同行业第一。 2003年2月13日，欧盟公布《关于电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》（简称RoHS）。虽然RoHS只在欧洲实行，但世界各国制造企业从环保角度出发，大多采取措施确保产品符合RoHS标准。围绕RoHS标准，衍生出一个新的行业——检测、分析有害物质仪器设备行业。 天瑞依托董事长刘召贵博士的课题“X荧光分析软件设计”，从前几年开始研发、生产X射线荧光分析仪。经过多年潜心研发，天瑞共拥有12个实用新型ZL、12个外观设计ZL、11个软件登记ZL以及3项著作权登记ZL等，并通过CE认证、ISO9001产品质量管理体系国家制造计量器具许可证和X射线衍射仪......阅读全文
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
特征x射线与荧光x射线的产生机理有何异同
产生的机理不同，特征X射线是由电子撞击金属靶，使金属原子中的K层L层M层等等层的核外电子被激发形成空位，外层电子跃入该空位，多余的能量产生X射线，荧光X射线则是由X射线或其他电磁波照射原子使原子核外电子激发形成空位，外层电子跃入空位产生X射线，二者都可以表示元素种类，但是产生一个是由电子引起，一个是
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线荧光光谱和荧光光谱－区别
一、理论上。荧光光谱是比较宽的概念，包括了X射线荧光光谱。二、从仪器分析上，荧光光谱分析可以分为：X射线荧光光谱分析、原子荧光光谱分析，1）X射线荧光光谱分析——发射源是Rh靶X光管2）原子荧光光谱分析——可用连续光源或锐线光源。常用的连续光源是氙弧灯，常用的锐线光源是高强度空心阴极灯、无极放电灯、
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的起源
1895年德国物理学家威廉·康拉德·伦琴研究阴极射线管时，发现阴极能放出一种有穿透力的、肉眼看不见的射线。由于它的本质在当时是一个“未知数”，故称之为X射线。 伦琴无条件地把X射线的发现奉献给人类,没有申请ZL。 X射线和可见光一样属于电磁辐射，但其波长比可见光短得多，在10-6～10nm。
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的产生
高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（1％左右）能量转变为X射线，而绝大部分（99％左右）能量转变成热能使物体温度升高。 产生X射线源有同位素放射源、X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光等。
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的本质
X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二像性。 1）波动性 X射线的波长范围：0.01~100 用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm 2）粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐
新型X射线荧光技术的的应用
第一个受益于这种新型X射线荧光技术的无疑是制造业、机械加工、金属加工、废品回收以及钢铁回收等行业中的质量管理部门，对于这几个行业，几乎所有人都会非常关心他们产品的质量问题。此外，一些先前因为成本高昂而从未考虑过使用X射线光谱分析技术的领域也能受益于此并开始使用XRF，包括航空航天、汽车和医疗仪器
概述荧光X射线测厚仪的应用范围
－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围
简述x射线荧光光谱测厚仪特色
1.可测量0.01um-300um的镀层。 2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。 3.除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。 4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。 5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。 6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线荧光分析方法的优点介绍
①分析的元素范围广，除少数轻元素外，周期表中几乎其他所有的元素都能进行分析。随着仪器的改进，分析元素已经扩展到F，O，C等轻元素。 ②荧光X射线谱简单，谱线干扰少，对于化学性质极其相似的元素，如稀土、锆铪、铂系等，不需经过复杂的分离，就能成功地完成分析工作。 ③分析的浓度范围较宽，从常量组分
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光分析法的简介
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依
X射线荧光法的相关介绍
X射线荧光法是用，照射待测样品，使受激元素产生二次特征X射线（即荧光），使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率，从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。 方法的特点是操作简单，速度快，可以进行原位测量，在现场获得目标元素的含量；划分矿与非矿的界限，代替或部分代替刻槽取样。
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析的原理及应用
X射线荧光分析(XRF)——是对任何种类的样品进行元素分析的好分析技术，无论必需分析的样品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度范围从 100 % 到低至亚 ppm 级。 作为一种确定各种材料化学组成的
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X射线荧光光谱仪结构
该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。