地学实验室及仪器扫盲（1）离子探针实验室

二次离子质谱仪简介

　　二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。[1]　　在传统的SIMS实验中，高能一次

二次离子质谱仪（SIMS）

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导

二次离子质谱仪组成介绍

　　SIMS主要包括一次离子源、进样室、质量分析器、真空系统、数据处理系统等部分，对于绝缘样品还配有电荷补偿的电子中和枪，同时根据分析目的不同，还配有不同的离子源，常见的有气体放电源（如O、Ar、Xe）、表面电离源（如Cs）、热隙源（如C60）和液态金属及团簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　这是

二次离子质谱仪原理简介

二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器，可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂

同位素质谱仪和离子探针

　　同位素质谱仪　　同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果精确，样品用量少（微克量级）。能精确测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。　　离子探针　　离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m

北京离子探针中心离子探针质谱仪器研发进入攻坚阶段

　　2010年1月16-17日，由北京离子探针中心主办的“2009北京SHRIMP成果报告会”在京隆重举行。中国科学院多位院士、政府相关部门负责人以及来自全国各地的地学界同仁等约100人出席了开幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流会”已经成为中国地学界同仁们进行学术交

扇形磁场二次离子质谱仪简介

　　　　扇形磁场二次离子质谱仪器通常使用静电和扇形磁场分析器来进行溅射二次离子的速度和质量分析。扇形磁场使离子束偏转，较轻的离子会比较重的离子偏转更多，而较重的离子则具有更大动量。因此，不同质量的离子会分离成不同的光束。静电场也应用于二次光束中，以消除色差。由于这些仪器具有更高的工作电流和持续光束，

二次离子质谱仪的发展历史

　　自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。　　尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog

质谱仪离子探针质谱仪产品介绍、特点和应用领域

离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限

二次离子质谱仪的质谱原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象（基本原理如图1所示）。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子

DPiMS2020原位探针离子化质谱仪

岛津液质联用仪, DPiMS-2020 是一种基于探针电喷雾电离的单极质谱仪。它使用探针从样品板上放置的样品中取出微量的液体, 并将其注入 MS 单元进行质量分析。 它是非常容易操作和它能测量样品例如化工产品、食物材料和生物样品, 直接地或以非常极小的样品预处理。

二次离子质谱仪对分析物的要求

　　在二次离子的常规检测中，可以用于分析的样品可以固体，也可以是粉末、纤维、块状、片状、甚至液体（微流控装置）。如果从导电性考虑，这些样品可以是导电性好的材料，也可以是绝缘体或者半导体。从化学组成上来分，可以是有机样品，如高分子材料、生物分子，也可以是无机样品，如钢铁、玻璃、矿石等。

关于二次离子质谱仪操作模式的介绍

　　SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间

简述二次离子质谱仪的应用领域

　　当前二次离子质谱领域发展迅速，在半导体制造中元素掺杂，薄膜的组分测量和其他无机材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等领域具有非常重要应用。　　通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段，尤其是对于分析不同薄层中的材料，以及相邻两层之间材料的相互影响 分析亚微米尺度下的特征

飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次

高级玩具：二次离子质谱仪器核心技术研发

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二

二次离子质谱仪器核心技术项目通过验收

　　2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京

关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍

　　飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二次离子质谱 飞行时间二次

一单位880万采购飞行时间二次离子质谱仪

　　某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目公开招标公告　　项目概况 某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件，并于2023年10月30日13点30分（北京时间）前递交投标文件。　　一、项目基本情况　　项目编号：OITC-G

关于四级杆二次离子质谱仪器的介绍

　　　　由于这些仪器的质量分辨率相对有限（单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量），因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场，其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是，这些仪器需要在高一次离子电流下操作，且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器（比如用于溅射深度剖析

1500万！辽宁材料实验室计划采购二次离子质谱仪

东方国际招标有限责任公司招标公告（招标编号：0729-244OIT270108)　　东方国际招标有限责任公司受招标人委托对下列产品及服务进行国际公开竞争性招标，于2024-04-19在中国国际招标网公告。 本次招标采用传统招标人式，现邀请合格投标人参加投标。　　1、招标条件　　项目概况：二次离子质谱

花落谁家？复旦大学二次离子质谱仪设备中标结果公告

2024年1月9日，中国政府采购网发布了复旦大学二次离子质谱仪设备国际中标公告，最终 Quantum Design Hong Kong Limited 以416.7万的成交额提供该设备。　　一、项目编号：1069-234Z20234470（HW2023111401）（招标文件编号：1069-234Z

二次离子质谱仪器核心技术项目在京顺利通过验收

   由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”（编号：2006BAK03A21）在京顺利通过验收。课题验收会由“十

TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理

1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子

离子探针原理

离子探针(IMA)的基本原理是，用高能负氧离子轰击样品表面，测定被飞溅活化出来并发生电离的原子（即离子）的同位素组成，以获得年龄。为一种得到迅猛发展的新型质谱计，它具有许多其他测年方法所没有的优点：不需要化学处理；具有高的分辨率，可同时获得几组年龄以确定被测对象同位素体系是否封闭，有无铅丢失；可对样

离子探针方法

离子探针方法是将质谱测定技术与离子发射显微镜技术相结合的现代仪器分析方法。能提供一般质谱分析所不能提供的试样微区质谱。由于它能对固体物质作微区、微量及深度成分分析，在某些条件下检测灵敏度可达ppb数量级，因此被广泛地应用于半导体、冶金、地质和生物研究等部门。其原理是利用聚焦的高能一次离子束轰击试样表

“二次离子质谱仪器核心技术研发”项目子课题通过验收

　　2月21至22日，由国家质检总局科技司委托组成的测试专家组，对中科院大连化学物理研究所承担的“十一五”国家科技支撑计划项目课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”中的子课题“角反射飞行时间质量分析器”进行了现场考核与测试。验收专家组组长由北

“高分辨率二次离子质谱仪研制”项目启动会召开

原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/2/494313.shtm近日，由中科院海洋研究所牵头承担的国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”重点专项“高分辨率二次离子质谱仪研制”项目启动暨实施方案论证会在青岛召开。 会议现场