分子离子的质荷比表示什么
质荷比是离子的分子量与所带电荷的比值，分子是没有质荷比的。质谱图中比较有用的就是分子离子峰M+，同位素峰，至于碎片离子峰需要一定经验并结合你所测试的样品来确定......阅读全文
荷质比计算
质荷比，是指带电粒子质量与电荷之比（m/e或m/q）；通常说的是带电粒子的质量数与电荷数之比（m/z），其中质量数m以原子质量（au）为单位，电荷数z以质子电荷（e）为单位，因此m/z是一个无量纲数。比如，氢离子（质子）的m/z=1/1=1，带一个正电荷的甲基ch3+的m/z=15/1=15。质荷比
核质比与荷质比的区别
荷质比：一个粒子的质量和它所带电荷的比(m/q),如质子：1.6*10^-19/1.6*10^-27。荷质比为物理学上的概念，核质比为生物学上的概念。
质谱分析法术语质荷比
质荷比（mass charge ratio，m/z）离子质量（以相对原子质量为单位）与它所带电荷（以电子电量为单位）的比值。
质谱分析，基于质荷比的高端定量检测
质谱分析法是利用电磁学原理使待测样本粒子电离，再根据离子的质荷比将其区分开，记录显示这些离子的相对强度。将离子按质荷比的大小顺序进行收集和记录，得到质谱图，最后通过对质谱图各峰的识别和解析进行分析检验，以达到分析目的一种分析方法。质谱图的横轴表示粒子质荷比（m/z）；纵轴表示离子流强度，通常以相对强
分子离子的质荷比表示什么
质荷比是离子的分子量与所带电荷的比值，分子是没有质荷比的。质谱图中比较有用的就是分子离子峰M+，同位素峰，至于碎片离子峰需要一定经验并结合你所测试的样品来确定
质谱图中，为什么某个质荷比对应有两个很接近的峰
如果两个峰高差距不大，那可能是质谱分辨率不够，没把两种峰彻底分开（质荷比不一定是整数，对于如高分子之类的物质，出现带小数的质荷比很正常）。如果两个峰高差距很大，那可能是同位素峰。
能荷的概念
能荷（energy charge)，即能量负荷，生物学术语，指在总的腺苷酸系统中（即ATP,ADP和AMP浓度之和）所负荷的高能磷酸基数量。细胞所处的能量状态用ATP、ADP和AMP之间的关系式来表示，称为能荷。
什么叫荷电校正？为什么需要进行荷电校正？
当用XPS 测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS 测量绝缘体或者
什么是荷电效应
对于导电性能不好的样品如半导体材料,绝缘体薄膜,在电子束的作用下,其表面会产生一定的负电荷积累,这就是俄歇电子能谱中的荷电效应.样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加了一定的额外电压, 使得测得的俄歇动能比正常的要高.在俄歇电子能谱中,由于电子束的束流密度很高,样品荷电是一个很严重的问题.有些导
XPS图谱荷电校正
当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差。在用XPS测量绝缘体或者半导
什么是荷电效应
对于导电性能不好的样品如半导体材料,绝缘体薄膜,在电子束的作用下,其表面会产生一定的负电荷积累,这就是俄歇电子能谱中的荷电效应.样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加了一定的额外电压, 使得测得的俄歇动能比正常的要高.在俄歇电子能谱中,由于电子束的束流密度很高,样品荷电是一个很严重的问题.有些导
砌体砂浆强度点荷仪－砂浆点荷仪的使用说明
ZXL-2000砌体砂浆强度点荷仪 砂浆点荷仪 砂浆强度点荷仪 岩石点荷仪一、简介：砌体砂浆强度点荷仪（又名：砂浆点荷仪），是根据GB/T50315-2000《砌体工程现场检验技术规程》而研制生产的。是砌体砂浆强度检测的专用仪器，其特点是能在现场或试验室直接测试，不影响墙体受力性能，具有检测容易，操
高比能电解质的性能介绍
高比能电解质：追求高比能是目前锂离子电池的最大研究方向，特别是当移动设备在人们的生活中占有越来越大的比例时，电池寿命已成为电池最关键的性能。
锂电池荷电保持能力和荷电恢复能力检测步骤
1、锂离子电池在(20±5)℃的环境温度下，以0.2C电流恒流放电至规定的终止电压(一般为3.0V)，然后以0.2C电流恒流充电至终止电压(一般为4.2V)，转入恒压充电(充电终止电流一般为0.02C)； 2、锂离子电池应在(20±5)℃的环境温度下开路存放28d； 3、锂离子电池应在(20
HPPO：小荷已露尖尖角
近期，我国过氧化氢直接氧化法制环氧丙烷（HPPO)捷报频传，吉林神华和中石化长岭炼化的项目分别取得重大进展，产品已投放市场。我国环氧丙烷产业的绿色低碳化发展迈上一个新台阶。这是中国化工报记者从9月1日召开的中国聚氨酯工业协会第十七次年会上了解到的。 清洁工艺门槛高 PO的生产工艺主要有氯醇化
荷电效应的评价方法
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理)
荷电效应的评价方法
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理)
如何进行荷电校正？
最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s 作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ) 来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作:1) 求取荷电校正值:C 单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)- 实际测得的C 单质峰位= 荷电校正值Δ;2) 采用荷电校正值对其
液相色谱同位素比质谱概述
1、液相色谱-同位素比质谱发展历史 1993年美国Caimi和Brenna两位学者最早开发了LC与IRMS联用仪器设备, 他们设计出了用可移动金属丝装置去除溶剂和燃烧目标分析物的LCM-2接口设备。其工作原理是液相色谱的流出组分首先通过Cu和Pt涂层的移动金属丝, 在150 ℃干燥室作用下,
杨乐院士：科研的“质”比“量”更重要
杨乐：数学家，中国科学院院士。主要研究函数论中的整函数、亚纯函数的值分布理论。在解析函数的研究中取得了许多创造性的成果。 记者：今年的政府工作报告中，“深入实施科教兴国战略和人才强国战略”依然被列入2012年主要任务之一。报告中提到“倡导学术诚信，鼓励独立思考，保障学术自由，弘
质谱峰面积之比是丰度比吗
不是。质谱峰面积之比不是丰度比，峰面积比代表各物质的相对百分含量，单位一般为%，峰高指待测组分从柱后洗脱出最大浓度时检测器输出的信号值，单位一般为mAU，AU或mV，也可代表相对含量，但不如峰面积准确。
轴向加荷疲劳试验机
疲劳试验机型式评价大纲第1部分:轴向加荷疲劳试验机符合标准JJF1315.1-2011，该大纲适用于轴向加荷疲劳试验机(以下简称为试验机)的型式评价口轴向加荷疲劳试验机主要包括:电液伺服疲劳试验机、液压脉动疲劳试验机、机械式疲劳试验机、电磁共振式疲劳试验机、电动式疲劳试验机和气动式疲劳试验机。原
砌体砂浆强度点荷仪概述
砌体砂浆强度点荷仪概述：该产品是根据GB/T50315-2000而研制生产的.是砌体砂浆强度检测的专用仪器,其特点是能在现场或试验室直接测试,不影响墙体受力性能,具有检测容易,操作方便,所需时间短,测试准确度高等特点,完全可以满足砌体工程现场质量控制及旧、古房屋质量鉴定、评定的客观需求. 压浆液压力
砂浆强度点荷仪标定方法
为了保持检测仪的稳定性，保证工程检测的检测精度，应定期对仪器进行校验。通过零点修正参数和满度修正参数可以进行调校，具体步骤如下：调校前，开机预热5分钟1、零点调校，通过零点修正参数 待显示数值稳定后记下显示数值，如果显示数值不为零，可以修改零点修正参数值零点修正值 = 此时的显示值2、满
荷用“机器鸟”对付机场飞鸟
世界各地许多机场都面临飞鸟困扰，这些小小鸟儿往往对飞行安全造成巨大威胁。荷兰一家公司最近想出一个办法，模拟猛禽的外形制造出一种“机器鸟”，用它来赶走机场飞鸟。 据荷兰国际广播电台16日报道，GreenX公司模仿鹰、隼等猛禽外形制造出机器鸟，它可由地面遥控，较为逼真地在空中飞
砌体砂浆强度点荷仪的参数？
砌体砂浆强度点荷仪是根据GB/T50315-2000而研制生产的。是砌体砂浆强度检测的专用仪器； 其特点是能在现场或试验室直接测试,不影响墙体受力性能,具有检测容易,操作方便,所需时间短,测试准确度高等特点； 完全可以满足砌体工程现场质量控制及旧、古房屋质量鉴定、评定的客观需求
荷专家在北海发现新种海豚
荷兰研究人员日前利用在北海发现的化石，确认了一个新的海豚种类Platalearostrum hoekmani。 据台湾“今日新闻网”9日报道，荷兰研究人员日前利用在北海发现的化石，确认了一个新的海豚种类Platalearostrum hoekmani，这种海豚体长6米，鼻子短小呈汤匙
XPS图谱如何进行荷电校正
最常用的，人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作：1) 求取荷电校正值：C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ；2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正
XPS能谱仪荷电校正（Calibration）
对于绝缘体样品或导电性能不好的样品,光电离后将在表面积累正电荷,在表面区内形成附加势垒,会使出射光电子的动能减小,亦即荷电效应的结果,使得测得光电子的结合能比正常的要高。样品荷电问题非常复杂,一般难以用某一种方法彻底消除。在实际的XPS分析中,一般采用内标法进行校准。最常用的方法是用真空系统中最常见
含多个氯、溴原子质谱丰度比怎么算
同位素峰簇M,M+1,M+2,……,峰强比规则（注意M+H峰对M+1峰强度迭加的干扰）：A A+1 A+2 元素类型35Cl 100 -- 37Cl