小角X射线散射技术测定非晶合金的介绍
非晶合金也称金属玻璃，它是急冷得到的亚稳定合金，在加热过程中会产生一系列的转变，逐渐由亚稳态转变到稳定态。在这个过程中会发生相分离以及晶化过程。已有许多学者利用小角X射线散射技术来研究非晶合金中的这些转变。 用原位小角X 射线散射研究了块体非晶合金Zr55Cu30Al10Ni5的退火行为。研究发现，该非晶合金在360℃退火时的散射强度随着退火时间的延长而增大，退火不同时间的散射曲线变化趋势相同，且无峰值出现，说明在360℃退火时无析出相出现，原子只限于短程有序排列。 由小角X 射线散射图谱可知，随着退火时间的延长，最大散射峰强度增大，其位置向小角区域移动。其散射极大值的出现源于非晶基体中10nm 左右的成分波动（即10nm 左右尺度的富铝或富钆区域）。峰值位置移向小角区域说明相分离粗化过程中成分起伏的尺度增大，从而推动了富铝区域面心立方纳米晶铝的形成；此过程可解释为，首先是非晶相分解成富铝以及富钆区域，然后纳米晶在富铝区......阅读全文
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线投射检测技术的介绍
X射线检测技术是无损检测技术的一种。 X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。 X射线不能直接测量，在测量前必须把它转化为可测量的量，有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线
X射线测厚仪测厚原理
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。下面大成精密技术人员给大家说说X射线测厚仪的基本原理和应用：一、应用领
X射线测厚仪测厚原理
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。下面大成精密技术人员给大家说说X射线测厚仪的基本原理和应用：一、应用领
X射线衍射仪测角仪的相关介绍
测角仪是X射线衍射仪测量中最核心部分，用来精确测量衍射角。 工作原理：在试样台C处装好试样，，入射线从X射线管焦点S发出，经入射光阑系统A投射到试样表面产生衍射，衍射线经接收光阑系统B、F、G进入计步器E。S、F在同一圆周（测角仪圆）上。试样台和计数器分别固定在两个同轴的圆盘上，由两个步进马达
X射线测角仪的简介
中文名称X射线测角仪英文名称X-ray goniometer定 义在X射线分析法中，用于测量入射X射线束与衍射X射线束之间夹角的仪器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线测角仪的原理
测角仪与德拜相机有许多相似之处。平板试样安装在试样台上，后者可围绕垂直于图4中的轴O旋转。S为X射线源，即X射线管靶面上的线状焦斑，它与图面相垂直。当一束发散X射线照射到试样上时，满足布拉格关系的某种晶面，其反射线便形成一根收敛光束。RS为接收狭缝，它与计数管D一起安装在围绕O旋转的支架上。当计数管
X射线单晶体衍射仪的反常散射法介绍
晶体衍射中有一条弗里德耳定律，就是说不论晶体中是否存在对称中心，在晶体衍射中总存在着对称中心，也即有FHKL=FHKL。但是当使用的X射线波长与待测样品中某一元素的吸收边靠近时，就不遵从上述定律，也即FHKL≠FHKL。这是由电子的反常散射造成的，利用这一现象可以解决待测物的相角问题。一般，这一
粉晶X射线衍射定性相分析
11.3.2.1 粉晶X射线定性相分析的基本原理和方法粉晶X射线定性相分析(物相鉴定)是指用X射线粉晶衍射数据对样品中存在的物相(而不是化学成分)进行鉴别。其理论根据是：任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波长的X射线照射下，每种晶体物质都有自己特有的衍射花样，即衍射谱线，不可能存在衍射花样
X射线显微分析技术介绍
中文名称X射线显微分析英文名称X-ray microanalysis定 义应用X射线显微分析器探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X－射线衍射技术的主要应用介绍
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射线投射检测技术的检测方法
X射线检测的方法很多，以下简要介绍三种： X射线小角散射 当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区，则会在入射束周围的小角度区域内出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射。根据电磁波散射的反比定律，相对于波长来说，散射体的有效尺寸越大则散射角越小。因此
关于X射线单晶体衍射仪的同晶置换法介绍
这种方法是设法把对X射线散射能力大的重金属原子，如Hg，Pb，Se等引入生物分子中，作为标识原子。这种置换入重原子的大分子应与无重原子时的原晶体有相同的晶胞参数和空间群，且绝大多数原子的位置相同，故称同晶置换。从这些含重原子晶体的衍射数据，利用基于派特逊法的方法可解出重原子的位置，据此算出其结构
X射线投射检测技术的原理及检测方法
原理 在X-Ray检测的过程中， X-Ray穿过待检样品，然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个
X射线的介绍
X射线（X-ray，伦琴射线）是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，是一种电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现[1]。 X射线具有很高的穿透性，被用于医学成像诊断。2017年10月27日，世界卫生组织国际癌症研究机构将X射线放置在致癌物清单中。
小角激光散射仪的详细使用方法
小角激光散射仪由光源、偏振系统、样品台和记录系统组成。单色激光照射到样品时发生散射现象，散射光投射到屏幕上并被拍摄下来，得到样品的散射条纹图。 当起偏片与检偏片的偏振方向正交时，得到的光散射图样叫做Hv散射；当起偏片与检偏片的偏振方向均为垂直方向时，得到的光散射图样叫做Vv散射。从这些散射图形
“上海光源”首轮开放取得重要科研成果
我国的大科学装置“上海光源”自今年5月6日首批七条光束线和实验站开始向用户试开放以来，目前已经取得了一批重要科研成果，其中包括解析出40多个具有重要生物学功能的新蛋白质结构。 记者从28日召开的“上海光源”第一届用户学术年会上获悉，截至目前，“上海光源”已累计接待的用户已超过1100人次，
X射线与γ射线的相关介绍
X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。 X射线与γ射线有许多类似的特性，但它们起源不同。 X射线由原子外部引起，而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低，因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞，由于它的广泛运用
非晶合金变压器的技术参数
技术参数 额定功率：50/60(KVA) 效 率(η)：100～1000 电 压 比：10000/400(V) 外形结构：立式 冷却方式：风冷式 防潮方式：灌封式 绕组数目：三绕组 铁心结构：非晶合金 冷却形式：干式 铁心形状：R型 电源相数：三相 频率特性：低频 型
X射线衍射技术简介
物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手
X射线光谱技术(XRF)
X射线光谱技术因其是一种环保型、非破坏性、分析精度高的分析技术[33], 特别是在贵金属产品、饰品无损检测方面有其独特的优势。用XRFA互标法无损检测黄金饰品,对金饰品[w(Au)>96%]的测定绝对误差
牛津仪器：背散射电子及X射线（BEX）成像
什么是BEX？ BEX是集背射电子和X射线成像于一体的新型微区分析技术，可以在SEM下同步、高效采集背散射电子图像和元素面分布图。 BEX技术能带来哪些新体验？ 此前，基于SEM的显微分析大多是静态的、逐步进行的，并且高度依赖用户经验。操作人员通常根据SE/BSE灰度图中的形貌或原子序数衬
X射线晶体学的多重同晶置换（MIR）概念
把对X射线散射能力大的重金属原子作为标识原子。这种置换入重原子的大分子应与无重原子时的原晶体有相同的晶胞参数和空间群，且绝大多数原子的位置相同，故称同晶置换。从这些含重原子晶体的衍射数据，利用基于派特逊法的方法可解出重原子的位置，据此算出其结构因子和相角，进而利用相角关系计算出没有重原子的原晶体的相
用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶
X射线的特点介绍
X射线与可见光相比，除了具有波粒二象性的共同性质之外，还因其波长短、能量大而显示其特性： 1、穿透能力强； 2、折射率几乎等于1； 3、透过晶体时发生衍射。