电子探针X射线能谱法测定黄金饰品的成色

本文介绍电子探针能谱法测定含金量50%~99%黄金饰品的成色,该法无损、快速、准确,对束流稳定性要求不高且操作简便。 ......阅读全文

18K金手链佩戴一周断裂青岛周生生质量惹争议

18K金手链佩戴一周断裂 青岛周生生质量惹争议黄金首饰不退不换遭质疑 青岛周生生(奥运店)最终向消费者低头   “花好几千块钱买的东西,才几天就断了…”近日,本网接到青岛市马女士的投诉,据其介绍,5月31日她在青岛海信广场周生生青岛(奥运)店购买了一条18K金手链,佩戴一周后手链发生断裂,

使用黄金纯度分析仪时需要注意的问题

  黄金纯度分析仪,作为现代珠宝与贵金属鉴定领域的重要工具,以其精准、快速、非破坏性的特点,为众多消费者和专业人士提供了强有力的技术支持。它不仅帮助我们准确鉴别黄金的真伪,更能精确测定其纯度,从而确保购买到的黄金饰品或投资品的质量与价值。  黄金纯度分析仪的工作原理主要基于光谱分析技术。当黄金样品被

电子探针可以用于汽车制造吗?

  众所周知,用于汽车制造的材料不仅有金属等无机材料,还包括塑料等有机材料。而且金属材料也要经过喷涂、热处理等多种不同的表面处理方法。电子产品也需要在耐热耐震等安全方面的可靠性保证。近年来随着环境保护意识的提高,也引起了汽车尾气催化剂、混合动力车的锂离子二次电池等的研发热潮。因此汽车行业是一个涉及多

电子探针图像系统的微机接口设计

前,世界上仍然使用着很多模拟图像系统的旧型电子探针和扫描电镜,仅国内就有数百台。它们的主机性能仍然良好,但使用单色CRT显示,没有图 像处理能力,图像质量不高,灰度分辨率不超过40级。基于这一缺陷,我们在地质矿产部科学技术司的资助下,研制了电子探针和扫描电镜的模拟图像系统与微形 计算机的接口,以实现

电子探针显微分析的方法介绍

  电子探针分析有两种基本分析方法:定性分析和定量分析。  (1)定性分析  定性分析是对试样某一选定点(区域) 进行定性成分分析,以确定点区域内存在的元素。  定性分析的原理:用光学显微镜或在荧光屏显示的图像上选定需要分析的点,使聚焦电子束照射在该点上,激发该点试样元素的特征X射线。用X射线谱仪探

为什么电子探针要使用抛光样品

简单来说 就是电子束从样品里面岀射时会被样品吸收一部分能量,对应一定的吸收距离,样品表面平整的话就有统一的吸收距离,则可统一修正,简单的如ZAF修正。如果样品表面不平整,则打在不同地方电子束的吸收距离不同,那么原来统一的修正显然不再适合。

简介电子探针显微分析的特点

  1.显微结构分析  电子探针是利用0.5μm-1μm的高能电子束激发待分析的样品,通过电子与样品的相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样品的微区内(μm范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm范围内的微区分析, 微区分析是它的一个重要

扫描电镜与电子探针的区别

电子探针仪,学名应该是扫描隧道显微镜(scanning tunnel microscopy,STM),它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过,样品和针尖上加有恒定电压,随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变,二者间的电流会有变化,记录这个电流的变化进行处理后,可以得到表面的形貌像

扫描电镜与电子探针的区别

扫描电镜和电子探针的根本区别在于电子束流:电子探针的束流(指打在样品表面的电流)要比扫描电镜大几个数量级.由此造成:电子探针的空间分辨率差,二次电子和背散射电子分辨率差.如果要求不高, 电子探针可以当作扫描来用.

关于电子探针的定性分析方法介绍

  1. 定点分析:  将电子束固定在要分析的微区上,用波谱仪分析时,改变分光晶体和探测器的位置,即可得到分析点的X射线谱线;用能谱仪分析时,几分钟内即可直接从荧光屏(或计算机)上得到微区内全部元素的谱线。  镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别  Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元

电子探针分析的X射线能谱法

本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学

什么是电子探针显微分析仪

  电子探针显微分析(EPMA = Electron Probe Microanalysis),全称:电子探针x射线显微分析,是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。适用于分析试样中微小区域的化学成分,是研究材料组织结构和元素分布状态的有效方法。  电子探针显微分析是利用聚焦电子束(电子探测针)照

电子探针X射线显微分析仪概述

  电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析,除做微区成分分析外,还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点,在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用,是土壤和矿物测

电子探针显微镜之不损坏试样探测

现在电子探针均与计算机联机,可以连续自动进行多种方法分析,并自动进行数据处理 和数据分析,对含 10 个元素以下的样品定性、定量分析,新型电子探针在 30min 左右可以 完成,如果用 EDS 进行定性、定量分析,几 min 即可完成。对表面不平的大样品进行元素 面分析时,现在可以自动聚焦分析

电子探针仪与扫描电镜有何异同

  透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。  构造原理 :  电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电

扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结

一、EPMA相对于SEM,(平台方面):1.可以大束流,计数率与束流成正比;2.束流控制和稳定性更好;3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS,(EPMA标配WDS,SEM选配EDS):1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级;2.EPMA的灵敏度优于EDS,测试微量元素时

电子探针X射线显微分析仪简介

  电子探针X射线显微分析仪,简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,并根据X射线的波长和强度,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面,击出表面组成元素的原子内层电子,使原子电离,此时外层电子迅速填补空位而释放能量,从

电子探针显微镜之元素分析范围广

电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(U),因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线,而氢和氦原子只有 K 层电子,不能产生特征 X 射线, 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线,但产生的特征 X 射线波长太长,通常无法进 行检测,少数电子探针

电子探针X射线显微分析仪概述

  电子探针X射线显微分析仪(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的简称为电子探针 。在众多样品化学成分分析的仪器中,电子探针分析技术(EPMA)是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析技术。  二战以来,世界经济和社会的迅猛发展极大的促进了科

电子探针仪与扫描电镜有何异同?

  电子探针仪,学名应该是扫描隧道显微镜(scanning tunnel microscopy,STM),它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过,样品和针尖上加有恒定电压,随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变,二者间的电流会有变化,记录这个电流的变化进行处理后,可以得到表面的形

清华大学仪器共享平台JEOL-电子探针(EPMA)

仪器名称:电子探针(EPMA)仪器编号:13010514产地:日本生产厂家:JEOL型号:JXA8230出厂日期:2010.1购置日期:201306所属单位:材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>电子探针、X射线荧光分室放置地点:逸夫技科楼A306室固定电话:固定手机:固定email:联系人:朱彦洁(0

扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结

一、EPMA相对于SEM,(平台方面):1.可以大束流,计数率与束流成正比;2.束流控制和稳定性更好;3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS,(EPMA标配WDS,SEM选配EDS):1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级;2.EPMA的灵敏度优于EDS,测试微量元素时

电子探针X射线微区分析的工作原理

  电子探针(Electron Probe Microanalysis-EPMA)的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。  其原理是:用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征X射线,分析特征X射线的波长(或能量)可知元素种类;分析

电子探针仪与扫描电镜有何异同

二者最主要的不同是其工作原理不同。电子探针仪,学名应该是扫描隧道显微镜(scanning tunnel microscopy,STM),它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过,样品和针尖上加有恒定电压,随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变,二者间的电流会有变化,记录这个电流的变

矿物的成分测试方法(电子探针显微分析)

电子探针X射线显微分析仪(EPM),简称电子探针,是一种现代成分分析仪器。由于它可以获得矿物微米量级微区内的化学成分,并且无需分离和破坏样品,费用也不高,尤其是对于那些含量少、颗粒微小以及成分不均匀样品的成分分析,提供了有效的分析方法,因此目前在矿物成分研究中应用最广。它除了可以给出一个微区的成分外

X射线能量色散荧光光谱仪能否鉴别真假黄金?

市场中出现在昂贵的黄金中参入超级便宜的钌,很难辨别真伪。钌的熔点 2607 K(2334 °C),是黄金的2倍多,钌的性质很稳定,耐腐蚀性很强,常温即能耐盐酸、硫酸、硝酸以及王水的腐蚀。参钌的黄金常规的熔解方法都只能熔解黄金和其他熔点低的金属,未被熔解的金属钌就很好隐藏了自己。钌的价格每克相对于金而

关于电子探针X射线微区分析的线分析

   使入射电子束在样品表面沿选定的直线扫描,谱仪固定接收某一元素的特征X射线信号,其强度在这一直线上的变化曲线可以反映被测元素在此直线上的浓度分布,线分析法较适合于分析各类界面附近的成分分布和元素扩散。  实验时,首先在样品上选定的区域拍照一张背散射电子像(或二次电子像),再把线分析的位置和线分析

电子探针能谱仪分析结果受哪些因素

X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业。它是当今国内

电子薄膜的电子探针能谱分析技术研究

对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分和厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分和厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术(电子探针能谱)能够观察微观形貌和分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜

电子探针显微分析的两种扫描方式

  电子探针分析有两种扫描方式:线扫描分析和面扫描分析。  (1)线扫面分析  使聚焦电子束在试样观察区内沿一选定直线(穿越粒子或界面)进行慢扫描。  X射线谱仪处于探测某已知元素特征X射线状态,得出反映该元素含量变化的特征X射线强度沿试样扫描线的分布。  X射线谱仪处于探测未知元素状态,得出沿扫描