高速存储器测试系统ADVANTESTT5833ESTU1共享
仪器名称：高速存储器测试系统-ADVANTEST T5833ES TU1仪器编号：18508803产地：392生产厂家：Advantest型号：T5833ES出厂日期：购置日期：26-12月-18所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：15010148547固定email：yanpingwang1009@mail.tsinghua.edu.cn联系人：杨建涛（010-61453947,15210967285,jtyang@mail.tsinghua.edu.cn）王艳平（010-66668888,15010148547,yanpingwang1009@mail.tsinghua.edu.cn）分类标签：集成电路技术指标：测试频率为1.2GHz；数字IO通道数量为160，数字Driver通道128，输入高压电平-1.0~4.0V，输入低压电平范围-1.5~4.0......阅读全文
高速存储器测试系统ADVANTEST－T5833ES－TU1共享
仪器名称：高速存储器测试系统-ADVANTEST T5833ES TU1仪器编号：18508803产地：392生产厂家：Advantest型号：T5833ES出厂日期：购置日期：26-12月-18所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：150
高速存储自动测试系统ADVANTEST－T5830ES共享
仪器名称：高速存储自动测试系统-ADVANTEST T5830ES仪器编号：18007126产地：日本生产厂家：Advantest型号：T5830ES出厂日期：201711购置日期：201803所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：1501
存储器老化测试系统ITT－B3000ES共享
仪器名称：存储器老化测试系统-IT&T B3000ES仪器编号：18026683产地：156生产厂家：IT&T CO.,Ltd型号：B3000ES出厂日期：购置日期：2018/10/25所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：15510039
nikon－系统测试共享
仪器名称：系统测试nikon仪器编号：A15000007产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：样品要求：样品要求：活细胞需种植在共聚焦显微镜小皿内；需要用0.17mm的盖玻片进行封片预约说明：所有大型仪器均可通过点击“仪器设备”，查看仪器设备联系人信息，可通过电话及邮件联系。预约后如有特殊原因无
系统测试nikon共享应用
仪器名称：系统测试nikon仪器编号：A15000007产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：医研院>生物医学测试中心>尼康影像中心放置地点：医学科学楼C153固定电话：固定手机：固定email：联系人：曹慧珍（010-62798727,15210512148,caohuizhen@m
超大规模集成电路测试机Advantest－V93000共享
仪器名称：超大规模集成电路测试机-Advantest V93000仪器编号：20000545产地：德国生产厂家：Advantest Europe GmbH型号：V93000出厂日期：购置日期：2020-03-31所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：
多功能存储器芯片的测试系统设计：提高芯片测试效率2
硬件电路设计在测试NAND FLASH时，测试时间长达十个小时不等。在此为提高测试效率，增加测试速度，本设计采用两套完全一样且独立的硬件系统构成。可同时最多测试2片NAND FLASH器件。每一个硬件系统由一个微处理器（NIOSII）加一个大容量FPGA及一个存储器测试扩展接口（即ABUS接
多功能存储器芯片的测试系统设计：提高芯片测试效率1
本文提出了一种多功能存储器芯片的测试系统硬件设计与实现，对各种数据位宽的多种存储器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）进行了详细的结口电路设计（如何挂载到NIOSII的总线上），最终解决了不同数据位宽的多种存储器的同平台测试解决方案，并详细地设
清华大学仪器共享平台nikon－系统测试
仪器名称：系统测试nikon仪器编号：A15000007产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：医研院>生物医学测试中心>尼康影像中心放置地点：医学科学楼C153固定电话：固定手机：固定email：联系人：曹慧珍（010-62798727,15210512148,caohuizhen@m
Advantest－Q8384光谱分析仪
二手Advantest Q8384光谱分析仪Q8384 Q8384是一台 的光谱分析仪，使用了爱德万测试新单色仪，具有高动态范围和高波长分辨率。它能提供提供世界上的测试性能，在1.55μm的带宽下的10pm的波长分辨率和20pm的波长精度。还提供精度测试和波长特性的评估。 Q8384 Advante
标准先行打造地区数据共享高速通道
自全国首个政务服务领域长三角区域地方标准《电子证照共享应用规范》（以下简称《规范》）发布实施以来，政务服务业务互认、数据互通、技术相容加速推进，以“软联通”推动长三角一体化进一步深度融合创新发展。《规范》规定了长三角区域电子证照跨省共享的流程、范围、接口，以及应用场景等技术要求，确保电子证照跨省共享
标准先行打造地区数据共享高速通道
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清洗系统共享应用
仪器名称：清洗系统仪器编号：04009244产地：台湾生产厂家：弘塑科技有限公司型号：SolventStrip出厂日期：200312购置日期：200410所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心加工平台放置地点：纳米楼超净间固定电话：固定手机：固定email：联系人：马伟涛（010-62796022,1
高速飞车系统“首航”成功
10月15日，中北大学与航天三院共同承担研制的山西省重大项目超高速低真空管道磁浮交通系统全尺寸试验线（一期）项目（“高速飞车”项目）在山西大同完成了系统性试验，“首航”成功。该条试验线为我国首条高速飞车全尺寸试验线，为山西省和航天科工集团合作共建。试验线利用超导磁悬浮技术、低真空管道技术和超导同步直
Advantest－Q8384爱德万Q8384光谱分析仪
Advantest Q8384爱德万Q8384光谱分析仪 15815566786=======================================深圳佳捷伦电子仪器有限公司联系人：陈娟/欧阳手机：15815566786/13510500080电话：0755-89518111传真：075
半导体ATE设备发展史
自动化测试设备（ATE，Automatic Test Equipment）是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。自动化测试设备（ATE）已是全球半导体设备产业之中的重要组成部分。 自动化测试设备（ATE）的应用场合涵盖集成电
高速逆流色谱的系统结构
图Ａ，调整逆流色谱基本系统结构 高速逆流色谱技术的基本系统结构如上图Ａ所示，主要由输液泵、进样阀、螺旋管式离心分离管、检测器等组成。由于其操作压力并不高，用普通的中低压泵即可。进样可用带有样品环管的六通进样阀进样。样品的分离是在多层螺旋管式离心分离管内完成。检测器与液相色谱的检测器相同，如紫外检测
与高速分拣系统无缝集成
包裹运输行业正在朝着成为更大枢纽、更快速度和更高水平自动化方向发展。 为了满足不断增多的系统集成需求，需要使用可扩展以及灵活的动态秤。动态数据捕捉解决方案快速、高处理量称重体积测量、称重与扫描买方指南简单且无缝集成到包裹处理系统的高效动态称重设备是高效物流操作的重要组成部分。 我们的新款动态秤在设计
与高速分拣系统无缝集成
简单且无缝集成到包裹处理系统的高效动态称重设备是高效物流操作的重要组成部分。 我们的新款动态秤在设计方面注重灵活的系统可集成性。优点包括：即插即用型系统设置可调节的皮带尺寸与高度定制化通讯协议定时数据输出 构建完整的解决方案我们的动态秤配备体积测量与条形码扫描功能。 可按照数据采集要求定制解决方案：
清华大学仪器共享平台高速落地离心机
仪器名称：高速落地离心机仪器编号：14007980产地：德国生产厂家：Thermo Fisher型号：lynx 4000出厂日期：201301购置日期：201405所属单位：医学院>免疫所放置地点：医学科学楼D324固定电话：固定手机：固定email：联系人：吴小静（010-62796829,158
化学气相沉积系统共享
仪器名称：化学气相沉积系统仪器编号：13003987产地：美国生产厂家：TRION型号：PHANTOMIII出厂日期：201205购置日期：201303所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>薄膜工艺放置地点：微电子所新所一层微纳平台固定电话：固定手机：固定email：联系人：窦维治（010-6278
弘塑清洗系统共享应用
仪器名称：清洗系统仪器编号：04009245产地：台湾生产厂家：弘塑科技有限公司型号：RCAPre出厂日期：200312购置日期：200410所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心加工平台放置地点：纳米楼超净间固定电话：固定手机：固定email：联系人：马伟涛（010-62796022,1391032
PICOSUN－原子层沉积系统共享
仪器名称：PICOSUN 原子层沉积系统仪器编号：16041497产地：中国生产厂家：PICOSUN型号：R200 Advanced出厂日期：201709购置日期：201612所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>薄膜工艺放置地点：微电子所新所一楼109固定电话：固定手机：固定email：联系人：曹
EVG高级匀胶系统共享
仪器名称：高级匀胶系统仪器编号：04001156产地：奥地利生产厂家：EVG型号：EVG101C出厂日期：200303购置日期：200403所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心加工平台放置地点：纳米楼超净间固定电话：62796022固定手机：18701647330固定email：andong3014
Finefocus－X射线检测系统共享
仪器名称：X射线检测系统仪器编号：11027004产地：德国生产厂家：Finefocus型号：Finefocus_Cougar出厂日期：201107购置日期：201112所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>封装工艺放置地点：微电子所新所一层微纳平台固定电话：固定手机：固定email：联系人：郑瑶（
薄膜溅射沉积系统共享应用
仪器名称：薄膜溅射沉积系统仪器编号：16041495产地：中国生产厂家：AJA型号：ATC 2200-V出厂日期：201605购置日期：201612所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>薄膜工艺放置地点：微电子所新所一楼108固定电话：固定手机：固定email：联系人：窦维治（010-6278109
弘塑刻蚀系统共享应用
仪器名称：刻蚀系统仪器编号：04009242产地：台湾生产厂家：弘塑科技有限公司型号：NitrideEtch出厂日期：200312购置日期：200410所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心加工平台放置地点：纳米楼超净间固定电话：固定手机：固定email：联系人：马伟涛（010-62796022,13
EVG高级显影系统共享应用
仪器名称：高级显影系统仪器编号：04001249产地：奥地利生产厂家：EVG型号：EVG101D出厂日期：200303购置日期：200403所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心加工平台放置地点：纳米楼超净间固定电话：固定手机：固定email：联系人：安东（010-62796021,187016473
上海微系统所团队在超导存储器件研究取得进展
近日，中国科学院上海微系统与信息技术研究所研究员陈垒、王镇提出了一种新型3D nano-SQUID超导存储器件，发现利用其特有的偏离正弦函数的电流-位相关系。研究结果以Miniaturization of the Superconducting Memory Cell via a Three-D
高速逆流色谱的分配系统
溶剂系统的选择是同时选择色谱分离过程的两相，是对样品成功分离的关键所在，而样品中各组分的分配系数决定着这种溶剂系统是否合适，因此分配系数的测定是选择溶剂系统的重要环节。分配系数的测定多采用薄层色谱法、毛细管电泳法、HPLC法、生物活性分配比率法及分析型HSCCC法。